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      借助測量光譜與參照光譜的互相關(guān)來測定均勻分布在介質(zhì)中的化學(xué)物質(zhì)的存在的方法

      1081   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
      2023-03-19 06:45:17
      本發(fā)明涉及一種測定均勻分布在介質(zhì)中的至少一種化學(xué)物質(zhì)V′的同一性或非同一性的方法,其通過:A)將含有至少一種均勻分布的化學(xué)物質(zhì)V′的介質(zhì)曝露于具有可變波長Λ的分析輻射中,和B)借助吸收、反射、發(fā)射和/或散射的輻射來確定光譜測量函數(shù)I′(Λ)。本發(fā)明方法特征在于根據(jù)方程式I確定相關(guān)函數(shù)K(ΔΛ,C′,C),其中K(ΔΛ,C′,C)表示取決于函數(shù)I′(Λ,C′)和I(Λ,C)的相對位移ΔΛ及至少一種化學(xué)物質(zhì)V′及V的濃度C′及C的相關(guān)性;C′表示均勻分布在介質(zhì)中的具有已知或待定同一性的至少一種化學(xué)物質(zhì)V′的濃度;C表示均勻分布在介質(zhì)中的具有已知同一性的至少一種化學(xué)物質(zhì)V的濃度,I′(Λ,C′)表示具有濃度C′的至少一種均勻分布在介質(zhì)中的化學(xué)物質(zhì)V′的測量函數(shù),I(Λ,C)表示具有濃度C的至少一種均勻分布在介質(zhì)中的化學(xué)物質(zhì)V的比較函數(shù),和N表示標(biāo)準(zhǔn)化因子,并借助相關(guān)函數(shù)K(ΔΛ,C′,C)測定化學(xué)物質(zhì)V′與V之間的同一性或非同一性。
      聲明:
      “借助測量光譜與參照光譜的互相關(guān)來測定均勻分布在介質(zhì)中的化學(xué)物質(zhì)的存在的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
      我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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