本發(fā)明涉及基于雙光子計數(shù)器寬線性范圍的光子測量系統(tǒng),屬于光學檢測技術領域,被測物發(fā)出的光經導光棒入射至分光裝置的分光膜,經分光膜透射的透射光入射至測低值光子計數(shù)器,經分光膜反射的反射光經過光闌和衰減片后入射至測高值光子計數(shù)器,計算處理裝置判斷測高值光子計數(shù)器輸出的第一測值是否大于閾值,閾值為測低值光子計數(shù)器的線性最高點對應的測高值光子計數(shù)器的光子數(shù),若是,則計算處理裝置輸出光子探測值,光子探測值為第一測值與分光膜的分光比的乘積。本發(fā)明利用測低值光子計數(shù)器和測高值光子計數(shù)器相結合,實現(xiàn)微弱光相對光強的寬線性范圍探測,從而滿足化學發(fā)光免疫分析領域或者其他光能量探測等領域所需的寬線性范圍測量的需求。
聲明:
“基于雙光子計數(shù)器寬線性范圍的光子測量系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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