本發(fā)明涉及一種基于趨膚效應的鐵磁導體相對磁導率檢測方法及系統(tǒng),所述方法包括檢測半徑為r的圓柱形待測樣品上任意相距L的兩個檢測點之間的低頻電阻值R0;根據(jù)待測樣品上任意兩個檢測點之間的低頻電阻值R0、兩個檢測點間距L和待測樣品半徑r計算待測樣品的電阻率ρ,檢測待測樣品上所述兩個檢測點之間的高頻電阻值R;根據(jù)待測樣品上所述兩個檢測點之間的低頻電阻值R0、高頻電阻值R、半徑r和電阻率ρ計算待測樣品的相對磁導率μr。本發(fā)明有效避免了常規(guī)方法需要將樣品加工成環(huán)狀、并需要繞制線圈的麻煩,也避免了磁路漏磁等缺陷,簡單巧妙,檢測結果準確,實現(xiàn)了快捷無損精確測量,具有較好的應用前景。
聲明:
“基于趨膚效應的鐵磁導體相對磁導率檢測方法及系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)