本發(fā)明公開了一種基于貝葉斯理論的超聲C掃描路徑優(yōu)化方法,屬于超聲無損檢測(cè)領(lǐng)域。采集初始超聲信號(hào),提取出待檢測(cè)深度的缺陷特征值,并估算閾值。將已采集信號(hào)位置的缺陷特征值投入到高斯過程回歸模型中和增益期望函數(shù),計(jì)算出各個(gè)未采集信號(hào)位置的補(bǔ)充采集得分,并以補(bǔ)充采集得分高于閾值的全部極值點(diǎn)坐標(biāo),作為新一輪的補(bǔ)充采集坐標(biāo)。經(jīng)過多輪次的補(bǔ)充采集后,檢測(cè)區(qū)域內(nèi)不存在補(bǔ)充采集得分高于閾值的坐標(biāo),結(jié)束掃描,輸出全部坐標(biāo)缺陷特征值的置信均值并成像。實(shí)現(xiàn)對(duì)塊狀結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷的快速檢測(cè)和準(zhǔn)確表征。該算法以較少的補(bǔ)充檢測(cè)輪次和較少數(shù)據(jù)采集量,實(shí)現(xiàn)金屬構(gòu)件內(nèi)部缺陷狀況的準(zhǔn)確評(píng)估。
聲明:
“基于貝葉斯理論的超聲C掃描路徑優(yōu)化方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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