磁驅(qū)峰值力調(diào)制原子力顯微鏡及多參數(shù)同步測量方法,涉及微納米尺度下材料的表面形貌、力學(xué)特性的測量技術(shù),目的是為了解決傳統(tǒng)基于力位移曲線的方法中探針的驅(qū)動頻率范圍受限、以及在液體環(huán)境下整體驅(qū)動探針會干擾探針懸臂的運動,影響測量精度的問題。樣品臺內(nèi)置有線圈,探針針尖上設(shè)置有沿探針長度方向磁化或有在該方向的磁化分量的磁性顆粒。首先獲得探針自由狀態(tài)振動的PSD電壓曲線Ufree,再獲得探針間歇接觸樣品時針尖位置的PSD電壓曲線Uinden,由Ufree和Uinden獲得探針受力的電壓曲線UForce,根據(jù)以上各曲線獲得力?位移曲線,進而結(jié)合相應(yīng)的接觸力學(xué)模型獲得材料的力學(xué)特性。本發(fā)明探針驅(qū)動頻率范圍寬,測量精度高,適用于高分子
復(fù)合材料或者生物細(xì)胞的研究。
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