差壓表 764     

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Capsuhelic?差壓表是用來(lái)快速，準(zhǔn)確地測(cè)量差壓。它應(yīng)用于測(cè)量流體，氣體過(guò)濾器的壓降，貯藏罐液位以及很多需要測(cè)量壓力，真空或差壓的場(chǎng)合。 Capsuhelic?產(chǎn)品使用久經(jīng)考驗(yàn)的Magnehe

CTM5000系列臥式拉力試驗(yàn)機(jī) 3356     

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適用于電線電纜、繩內(nèi)等試樣的拉伸測(cè)試，自動(dòng)求取最大試驗(yàn)力值、抗拉強(qiáng)度和伸長(zhǎng)率等參數(shù)，并可隨時(shí)打印試驗(yàn)報(bào)告曲線。本試驗(yàn)機(jī)是根據(jù)GB/T2611-2007《試驗(yàn)機(jī)通用技術(shù)要求》和《電子式萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)》GB/T16491-1996標(biāo)準(zhǔn)制造。適用標(biāo)準(zhǔn)：ASTM、DIN、ISO、JIS、BS等。

智能型鐵架金屬檢測(cè)機(jī)（鋁箔專用機(jī)） 2480     

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采用DSP數(shù)字信號(hào)處理芯片，提升檢測(cè)靈敏度及穩(wěn)定性。LED顯示屏顯示操作狀態(tài)界面。

德國(guó)MESUTRONIC輸送帶式金屬探測(cè)儀 2202     

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輸送機(jī)式金屬探測(cè)器適用于食品，醫(yī)藥、化工、紡織、玩具等行業(yè)中對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行雜質(zhì)檢測(cè)，既可用于半成品的質(zhì)量控制檢驗(yàn)，也可以用作成品出廠 檢驗(yàn)，特別適用于各種紙質(zhì)、塑料、玻璃等非金屬包裝的產(chǎn)品。金檢機(jī)結(jié)構(gòu)上的特殊設(shè)計(jì)可有效避免振動(dòng)、噪聲和產(chǎn)品效應(yīng)等，外部因素的干擾。

數(shù)碼智能金屬檢測(cè)機(jī) 2031     

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1．核心專利的數(shù)字化檢測(cè)技術(shù)。2．采用高精度的 SMD 貼片進(jìn)口元件，減少了 PCB 面積，從而提高了產(chǎn)品的可靠性。

JBS金屬擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī) 2933     

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用來(lái)對(duì)金屬材料在動(dòng)負(fù)荷下抵抗沖擊的性能進(jìn)行檢驗(yàn)，是冶金、機(jī)械制造等單位必備的檢測(cè)儀器，也是科研單位進(jìn)行新材料研究不可缺少的測(cè)試儀器。該系列機(jī)型也是目前市場(chǎng)上使用最普遍的沖擊試驗(yàn)機(jī)。

JBW系列沖擊試驗(yàn)機(jī) 3718     

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用于進(jìn)行金屬夏比沖擊試驗(yàn)，得出金屬試樣的沖擊吸收功。對(duì)金屬材料在動(dòng)負(fù)荷下抵抗沖擊性能進(jìn)行檢測(cè)的儀器，能連續(xù)和大量地做金屬?zèng)_擊試驗(yàn)，并顯示沖擊吸收功、沖擊韌性、擺錘的旋轉(zhuǎn)角度及打印試驗(yàn)報(bào)告等。是金屬材料生產(chǎn)廠家、質(zhì)檢部門必備的檢測(cè)儀器，也是科研單位進(jìn)行新材料研究不可缺少的測(cè)試儀器。

超聲點(diǎn)焊探傷儀 1085     

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以色列ScanMaster公司是全球領(lǐng)先的超聲波檢測(cè)產(chǎn)品制造商，產(chǎn)品包括超聲波儀器儀表，超聲波檢測(cè)及成像系統(tǒng)和傳感器。ScanMaster產(chǎn)品適用于多個(gè)行業(yè)，包括：航空航天，管材，金屬，汽車和火車軌道，車輪和車軸行業(yè)。解決方案適用于多種環(huán)境，包括實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)設(shè)施。ScanMaster也是汽車行業(yè)檢測(cè)系統(tǒng)的領(lǐng)先制造商，提供汽車生產(chǎn)線點(diǎn)焊的高端超聲波檢測(cè)解決方案，推出全球首臺(tái)先進(jìn)的基于PC的超聲波點(diǎn)焊檢測(cè)系統(tǒng)UT/Mate,只需簡(jiǎn)單地把UT/Mate通過(guò)USB串行接口就惡意鏈接到任何一臺(tái)計(jì)算機(jī)/筆記本電腦上。

D300 經(jīng)濟(jì)型高精度臺(tái)階儀 3231     

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Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量，大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。 探針測(cè)量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測(cè)量，與材料特性無(wú)關(guān)。可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對(duì)各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行測(cè)量。通過(guò)測(cè)量粗糙度和應(yīng)力，可以對(duì)工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的多種變化。

ezAFM-便攜式原子力顯微鏡 3195     

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ezAFM是新設(shè)計(jì)的精致型原子力顯微鏡，具有設(shè)計(jì)緊湊、美觀大方、高穩(wěn)定性、占用空間小等特點(diǎn)，而且軟件功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)單、用戶界面良好，而且價(jià)格實(shí)惠，性價(jià)比較為高。它是理想的實(shí)驗(yàn)室用原子力顯微鏡，廣泛應(yīng)用于高等教育、納米技術(shù)教育和基礎(chǔ)研究等領(lǐng)域。產(chǎn)品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學(xué)、磁學(xué)等拓展模式，以及液相、真空環(huán)境等。

MVI原子力顯微鏡與可見(jiàn)-紅外-拉曼聯(lián)用系統(tǒng) 3222     

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原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)經(jīng)過(guò)30多年的發(fā)展后，從形貌測(cè)試及其它常規(guī)功能來(lái)看已經(jīng)非常成熟。然而常規(guī)的原子力顯微鏡也越來(lái)越無(wú)法滿足科研人員在納米尺度下對(duì)于樣品進(jìn)行多性質(zhì)原位測(cè)試分析的需求，尤其在化學(xué)、光學(xué)、電學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)等領(lǐng)域。 在具備常規(guī)原子力顯微鏡功能的條件下，基于光誘導(dǎo)力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術(shù)，結(jié)合波長(zhǎng)可調(diào)的可見(jiàn)-紅外光源，從而實(shí)現(xiàn)10nm以下空間分辨可見(jiàn)-紅外成像與光譜采集，無(wú)需遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)接收器及光譜儀。 此外，VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類拉曼光譜儀

VITA　反應(yīng)離子刻蝕機(jī)（垂直腔室） 1840     

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反應(yīng)離子刻蝕系統(tǒng)，垂直腔室

SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 2058     

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SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 工作原理基于表面等離子共振（SPR）技術(shù)。是將表面等離子體共振技術(shù)和光學(xué)顯微鏡巧妙結(jié)合為一體的生物傳感檢測(cè)儀。可以同時(shí)得到細(xì)胞原位明場(chǎng)成像、SPR成像、及SPR動(dòng)力學(xué)曲線定量親和常數(shù)、結(jié)合解離常數(shù)，它為免標(biāo)記研究分子相互作用的領(lǐng)域開(kāi)辟一個(gè)嶄新的前沿。專門針對(duì)細(xì)胞膜蛋白和相關(guān)分子免標(biāo)記檢測(cè)而設(shè)計(jì)的SPRm200， 使您在不需要從細(xì)胞中提取和分離膜蛋白的前提下實(shí)時(shí)觀察細(xì)胞結(jié)構(gòu)并同時(shí)測(cè)量藥物和靶點(diǎn)在細(xì)胞上的結(jié)合過(guò)程。還可進(jìn)行對(duì)藥物和在天然狀態(tài)下的膜蛋白之間相互作用的測(cè)量，高分辨SPR成像，可

原位納米壓痕儀 2158     

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NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測(cè)試；也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試樣品的硬度、楊氏模量或者其它物理力學(xué)性能。 NanoFlip在硬度和楊氏模量測(cè)試、連續(xù)剛度測(cè)試（CSM）、力學(xué)性能譜圖（Mapping）、納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析（DMA）、劃痕和磨損測(cè)試、柱壓縮等測(cè)試中表現(xiàn)出色，可同時(shí)將SEM圖像與力學(xué)測(cè)試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip還可以進(jìn)行快速壓痕測(cè)量，這是在惰性環(huán)境（如手套箱）中研究非均相材料的重要手段。

Candela CS920表面缺陷檢測(cè)儀 1862     

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KLA Candela光學(xué)表面缺陷分析儀（OSA）可對(duì)半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行先進(jìn)的表面檢測(cè)。Candela系列既能夠檢測(cè)Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板，又能對(duì)SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料進(jìn)行檢測(cè)，成為其制程中品質(zhì)管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光學(xué)表面分析（OSA）專用技術(shù)，可同時(shí)測(cè)量散射強(qiáng)度、形狀變化、表面反射率和相位轉(zhuǎn)移，為特征缺陷（DOI）進(jìn)行自動(dòng)偵測(cè)與分類。OSA檢測(cè)技術(shù)結(jié)合散射測(cè)量、橢圓偏光、反射測(cè)量與光學(xué)形狀分析等基本原理，以非破環(huán)性方式對(duì)Wafer表面的殘留異物，表面與表面下缺陷，形狀變化和薄膜厚度

電阻率測(cè)試儀 1722     

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Filmetrics的薄膜電阻測(cè)量設(shè)備開(kāi)發(fā)源自于有著超過(guò)30年經(jīng)驗(yàn)的KLA的薄膜電阻計(jì)量技術(shù)，并由20年臺(tái)式測(cè)量設(shè)備開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)的Filmetrics團(tuán)隊(duì)完善了桌面式方塊電阻測(cè)量產(chǎn)品。KLA薄膜電阻測(cè)量技術(shù)包括接觸（4PP）和非接觸（EC）方法。 Filmetrics的R50系列方塊電阻測(cè)量?jī)x器可測(cè)量沉積在多種基材上的導(dǎo)電片和薄膜，跨越10個(gè)數(shù)量級(jí)范圍電阻率，包括：半導(dǎo)體晶圓基板、玻璃基板、塑料（柔性）基材、PCB圖案特征、太陽(yáng)能電池、平板顯示層和圖案化特征、金屬箔

Desk V 薄膜沉積解決方案 1792     

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Desk V樣品制備系統(tǒng)配制用于蒸發(fā)和濺射，是一種高生產(chǎn)率的解決方案，可提供卓越、一致和高度可重復(fù)的結(jié)果。 Desk V鍍膜系統(tǒng)提供兩種版本：Desk V HP和Desk V TSC。Desk V TSC，是渦輪分子泵濺射鍍膜機(jī)選項(xiàng)，專為高分辨率顯微鏡樣品設(shè)計(jì)，適用于氧化和非氧化金屬。Desk V磁控濺射裝置精確沉積導(dǎo)電鍍膜，其熱蒸發(fā)選項(xiàng)可以沉積薄碳層(使用棒材或紗線)。

D300 經(jīng)濟(jì)型高精度臺(tái)階儀 1767     

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Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量，大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。 探針測(cè)量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測(cè)量，與材料特性無(wú)關(guān)。可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對(duì)各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行測(cè)量。通過(guò)測(cè)量粗糙度和應(yīng)力，可以對(duì)工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的多種變化。

ezAFM-便攜式原子力顯微鏡 1765     

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ezAFM是新設(shè)計(jì)的精致型原子力顯微鏡，具有設(shè)計(jì)緊湊、美觀大方、高穩(wěn)定性、占用空間小等特點(diǎn)，而且軟件功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)單、用戶界面良好，而且價(jià)格實(shí)惠，性價(jià)比較為高。它是理想的實(shí)驗(yàn)室用原子力顯微鏡，廣泛應(yīng)用于高等教育、納米技術(shù)教育和基礎(chǔ)研究等領(lǐng)域。產(chǎn)品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學(xué)、磁學(xué)等拓展模式，以及液相、真空環(huán)境等。

MVI原子力顯微鏡與可見(jiàn)-紅外-拉曼聯(lián)用系統(tǒng) 2124     

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在具備常規(guī)原子力顯微鏡功能的條件下，基于光誘導(dǎo)力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術(shù)，結(jié)合波長(zhǎng)可調(diào)的可見(jiàn)-紅外光源，從而實(shí)現(xiàn)10nm以下空間分辨可見(jiàn)-紅外成像與光譜采集，無(wú)需遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)接收器及光譜儀。VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類拉曼光譜儀進(jìn)行聯(lián)用，組成原子力顯微鏡與可見(jiàn)-紅外-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)，以滿足科研人員在納米尺度下的測(cè)試需求。

P7 晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀 1764     

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KLA是全球半導(dǎo)體在線檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)較大的供應(yīng)商，在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、 MEMS 、太陽(yáng)能、光電子以及其他領(lǐng)域中有著不俗的市占率。 P-7是KLA公司的第八代探針式臺(tái)階儀系統(tǒng)，歷經(jīng)技術(shù)積累和不斷迭代更新，集合眾多技術(shù)優(yōu)勢(shì)。 P-7建立在市場(chǎng)領(lǐng)先的P-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。 它保持了P-17技術(shù)的測(cè)量性能，并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了好的性價(jià)比。 P-7可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接。從可靠性表現(xiàn)來(lái)看， P-7具有較好的測(cè)量重復(fù)性。UltraLite?傳感器具有動(dòng)態(tài)力控制，

KLA Alpha-step D-300/D-600型-臺(tái)階儀 2885     

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Alpha-Step D-600探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾納米到1200微米的臺(tái)階高度測(cè)量與三維形貌測(cè)量。D-600還可以在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境中支持粗糙度、翹曲度和薄膜應(yīng)力的測(cè)量。 D-600配置200毫米自動(dòng)移動(dòng)樣品臺(tái)與先進(jìn)的Keystone矯正的輔助光學(xué)系統(tǒng)

臺(tái)階儀 2337     

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探針式輪廓儀 / 臺(tái)階儀 / P-17 Stylus Profiler產(chǎn)品名稱：P-17 Stylus Profiler品牌：KLA-Tencor / KLA.型號(hào)：P-17 P-17支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)200mm而無(wú)需圖像拼接。

Themys高溫同步熱分析儀 2721     

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法國(guó)塞塔拉姆儀器（Setaram Instrumentation）創(chuàng)立于上世紀(jì)中葉，隸屬于凱璞科技集團(tuán)，總部位于法國(guó)第二大城市-里昂，在美國(guó)，中國(guó)及歐洲各國(guó)設(shè)有分支機(jī)構(gòu)。 70余年來(lái)，塞塔拉姆一直致力于為各行業(yè)的用戶提供獨(dú)特的熱分析、微量熱及氣體吸附解決方案，尤其 在高溫，高壓及髙精度量熱領(lǐng)域一直處于行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)地位。在不斷自我完善的同時(shí)，塞塔拉姆更見(jiàn)證了諸多用戶的成功。

SH-210里式硬度計(jì) 1209     

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熔盛SH-210便攜式里氏硬度計(jì)是我公司的升級(jí)產(chǎn)品，性能和品質(zhì)更優(yōu)。儀器依據(jù)里氏硬度測(cè)量原理，可以方便快捷地對(duì)多種金屬材料進(jìn)行測(cè)量，即刻顯示硬度測(cè)量值的同時(shí)，可在多種硬度制氏(布氏HB、洛氏HRC、維氏HV、肖氏HS)間自由轉(zhuǎn)換，可預(yù)先設(shè)置公差限，超出范圍自動(dòng)報(bào)警。該產(chǎn)品主機(jī)與高速熱敏微型打印機(jī)一體化設(shè)計(jì)，原裝進(jìn)口熱敏高速打印機(jī)芯支持現(xiàn)場(chǎng)即時(shí)打印功能，進(jìn)口長(zhǎng)效打印紙保證數(shù)據(jù)長(zhǎng)久貯存。低功耗設(shè)計(jì)理念依托穩(wěn)定IC集成電路，標(biāo)配大容量、長(zhǎng)壽命、高速充電鎳氫電池組。

ST-180超聲波測(cè)厚儀 1422     

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ST-180儀器是我公司研發(fā)的智能型超聲波測(cè)厚儀，全中文操作鍵膜，簡(jiǎn)單明了，采用高性能、低功耗微處理器技術(shù)，基于超聲波測(cè)量原理，可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量，對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè)，監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度，也可以對(duì)各種加工零件作精確測(cè)量。儀器廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、機(jī)械等各個(gè)領(lǐng)域。

GF數(shù)字式金屬探測(cè)儀 820     

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采用在國(guó)外金屬探測(cè)機(jī)設(shè)備中更多采用的平衡式原理，具有更穩(wěn)定可靠，性能更佳相位調(diào)節(jié)技術(shù)，能夠進(jìn)行產(chǎn)品調(diào)節(jié)，有效抑制產(chǎn)品效應(yīng)DSP和單片機(jī)相結(jié)合對(duì)檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理，提高了檢測(cè)效果具有良好的人機(jī)對(duì)話界面，金屬檢測(cè)儀能檢測(cè)鐵、不銹鋼、銅、鋁及其他有色金屬等多種材質(zhì);具有先進(jìn)的自學(xué)習(xí)功能，探測(cè)的物料范圍擴(kuò)大能夠方便地進(jìn)行靈敏度調(diào)節(jié)，符合HACCP認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品用途專門用于食品、藥品中的鐵金屬、非鐵金屬以及合金雜質(zhì)的探測(cè)。探測(cè)化工原料、橡膠產(chǎn)品以及紙質(zhì)產(chǎn)品中的各種金屬碎片。

精其單基膜厚儀WH81 1100     

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WH81涂層測(cè)厚儀是一種便攜式單基(鐵基)測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。當(dāng)然在實(shí)驗(yàn)室精密測(cè)量中也有使用，包括航空航天、科研開(kāi)發(fā)等領(lǐng)域。

WDW-20電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)|2T 1270     

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WDW-20電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)通過(guò)交流伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)橫梁移動(dòng)，采用進(jìn)口光電編碼器進(jìn)行位移測(cè)量。產(chǎn)品配置的全數(shù)字化多通道閉環(huán)測(cè)控系統(tǒng)。是應(yīng)用了許多先進(jìn)的專業(yè)技術(shù)開(kāi)發(fā)的新一代測(cè)控系統(tǒng)，控制軟件能自動(dòng)求取抗拉強(qiáng)度、屈服強(qiáng)度、彈性模量、非比例延伸強(qiáng)度RP0.2等常規(guī)數(shù)據(jù);

WEW系列微機(jī)顯示萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī) 1050     

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本系列產(chǎn)品主要用于各種金屬、非金屬材料進(jìn)行拉伸、剪切、彎曲、壓縮等力學(xué)性能試驗(yàn)。WEW系列產(chǎn)品是根據(jù)GB228-2010《金屬拉伸試驗(yàn)方法》采用手動(dòng)液壓控制微機(jī)顯示、電子測(cè)量而開(kāi)發(fā)的試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品，并根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)處理數(shù)據(jù)、打印出試驗(yàn)報(bào)告。