XL2 Plus手持式XRF光譜分析儀 2299     

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Niton XL2 Plus 旨在提供快速分析和低檢測限，確保獲得可靠結(jié)果。Niton XL2 Plus 通過專有2W x- 射線管、動態(tài)電流調(diào)節(jié)和新一代硅漂移探測器為每次測量提供很好的靈敏度。Niton XL2 Plus 通過智能基本參數(shù)法（FP）校正樣品基質(zhì)效應以獲得準確結(jié)果。

XL2 100G手持式合金光譜分析儀 1721     

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在廢舊合金回收，機械加工等行業(yè)，能夠肉眼區(qū)分辨別的合金材料種類有限。針對這些低附加值行業(yè)中常規(guī)合金牌號材料的鑒別區(qū)分，尼通推出了具有競爭力的XL2 100G 手持式X熒光光譜儀，該機具有經(jīng)濟實用、快速、機體耐用和傻瓜型易用的優(yōu)點。

XL3t 手持式合金光譜分析儀 1447     

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XL3t在原有XL2型基礎上增加了選配的小點測試和內(nèi)置CCD攝像頭對焦功能，可采用1mm光路準直系統(tǒng)針對焊點，焊縫等小測試區(qū)域進行針對性測試。

XL2 手持式合金光譜分析儀 1489     

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在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、安全防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場應用領域中，合金牌號鑒別、金屬成分快速分析，對實驗室分析來說是一項挑戰(zhàn)?，F(xiàn)在，這一切發(fā)生了根本性的變化，賽默飛Niton——正在引發(fā)一場元素分析領域的革命：快速精確的分析結(jié)果，昂貴分析成本的大幅降低，重大決策的快速制定，均可在扣動尼通XRF分析儀扳機的剎那間輕松實現(xiàn)。 ??

XL5Plus手持式合金光譜分析儀 1443     

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合金成分和牌號的檢驗對于回收站、金屬材料加工廠和金屬質(zhì)量管理等極為重要。檢驗員通常要在充滿挑戰(zhàn)的工作環(huán)境中快速精確確定各種類型的金屬材料的分和牌號。 XL5Plus手持式合金分析儀，將手持式X熒光技術與現(xiàn)代工業(yè)測試需求相結(jié)合。 賽默飛世爾（Thermo Fisher Scientific），原稱美國熱電集團，尼通(Niton)是其旗下品牌。作為手持式X射線熒光（XRF）分析儀器制造行業(yè)的佼佼者。尼通新發(fā)布的XL5Plus系合金分析儀加入人性化設計，具有小巧，快速，精準，穩(wěn)定的設計。

FAS 2100手持式X射線熒光光譜儀 1998     

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FAS 2100手持式X射線熒光光譜儀是朗鐸科技精湛的元素檢測技藝與客戶利益的精準結(jié)合，開創(chuàng)了檢驗級手持式光譜儀人工智能發(fā)展的新方向。朗鐸科技與國外光電子研究機構(gòu)聯(lián)合研發(fā)，在國際XRF領域掀起了一波新的數(shù)字革命浪潮。

FASO 智能在線成分光譜分析儀 1419     

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客戶通過光譜儀手動/自動檢測樣品，數(shù)據(jù)會自動上傳到分析儀，分析儀處理分析數(shù)據(jù)，根據(jù)事先設定的程序，發(fā)送I/O指令，聯(lián)動其他設備完成檢測。注：自動檢測、設備聯(lián)動，需要其他設備配合。

Niton Apollo手持激光誘導擊穿光譜(LIBS)分析儀 1659     

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發(fā)現(xiàn)Thermo Scientific? Niton? Apollo? 手持式 LIBS分析儀。設計幫助您克服棘手的分析挑戰(zhàn)，Niton Apollo 是專門測量碳含量的實用、便攜式設備。在激光誘導擊穿光譜 (LIBS) 的驅(qū)動下，Niton Apollo 提供了非?？斓乃俣取⑿袠I(yè)內(nèi)較高水平的性能，提高了生產(chǎn)效率。它將實驗室分析方法帶到現(xiàn)場并帶來了巨大可能性。

場發(fā)射透射電子顯微鏡 3294     

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JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫(yī)療、制藥、半導體到納米技術。 利用200KV場發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。 高亮度的場發(fā)射電子槍，輕松實現(xiàn)各種分析功能。

紅外光譜儀 2788     

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傅立葉變換紅外光譜儀能在最短的時間內(nèi)分析具有挑戰(zhàn)性的樣品，提供最完善的解決方案。分析實驗室對能夠高效完成原材料和最終產(chǎn)品的分析任務的儀器的需求與日俱增尼高力 NICOLET IS10傅立葉變換紅外光譜儀顯著簡化了傳統(tǒng)傅立葉變換紅外光譜儀的數(shù)據(jù)分析，樣品采集和儀器驗證環(huán)節(jié)，成為完成這類分析任務的一種較好的選擇為確保儀器性能而設計系統(tǒng)性能確認（SP）是一個確保光譜儀長期穩(wěn)定運行的有力工具。

熱重分析儀 2958     

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STA 449 F3 JUPITER 包含TG與DSC測試系統(tǒng)。具有如下顯著優(yōu)點：消除稱重量、樣品均勻性、升溫速率、氣氛壓力與流量差異等因素影響，TG與DTA/DSC曲線對應性更佳。同步熱分析儀根據(jù)某一熱效應是否對應質(zhì)量變化，有助于判別該熱效應所對應的物化過程（如區(qū)分熔融峰、結(jié)晶峰、相變峰與分解峰、氧化峰等）。同步熱分析儀在反應溫度處知道樣品的當前實際質(zhì)量，有利于反應熱焓的準確計算。

紫外可見近紅外分光光度計 2683     

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島津UV－3600是世界領先的高性能的紫外可見近紅外分光光度計，性能卓越。紫外可見分光光度計是每個化學分析實驗室必備的常用儀器設備之一，在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應用。島津的紫外可見分光光度計產(chǎn)品線非常豐富，從最普通的單光束分光光度計到測量范圍可以擴展到深紫外、近紅外區(qū)域的UV－VIS－NIR分光光度計。

球差電鏡測試 2549     

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JEM-ARM200F差校正透射電鏡，擁有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,標配了掃描透射環(huán)形明場(STEM-ABF)成像模式。對樣品在納米尺度的精細結(jié)構(gòu)和化學成份進行高水平表征檢測。用于納米科學、材料科學、生命科學等領域的科研項目。

工業(yè)CT 2585     

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XRADIA CONTEXT MICROCT，是一款大觀察視野、無損 3D X射線微焦點計算斷層掃描系統(tǒng)?？蓾M足多種 3D 表征和檢測需求的成像解決方案，不僅能夠在3D全景中展示完整大樣品的內(nèi)部細節(jié)，還能針對小樣品使用大的幾何放大倍數(shù)實現(xiàn)高分辨率和高襯度成像觀察細節(jié)特征。XRADIA CONTEXT 建立在歷經(jīng)考驗的蔡司XRADIA平臺之上，圖像質(zhì)量、穩(wěn)定性和易用性均屬上乘，且具備高效的工作流環(huán)境和高通量掃描功能。

差示掃描量熱儀 3048     

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耐馳差示掃描量熱儀DSC214對于日常的 DSC 測試提供了強有力的解決方案，并在硬件與軟件方面作了極大的改進。儀器在易于操作的同時提供了的可靠性，使得這款儀器成為包括聚合物工業(yè)在內(nèi)的諸多行業(yè)進行產(chǎn)品研發(fā)，質(zhì)量控制與失效分析的理想工具。

洛氏硬度計 2619     

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洛氏硬度計是世界上第一臺依據(jù)洛氏硬度試驗原理設計的，只需要單側(cè)接觸試樣就可測試金屬硬度的洛氏硬度計，依靠磁力將洛氏硬度計測頭吸附在鋼鐵表面，不需要對試樣進行支撐，測試精度符合標準GB/T230、ISO6508，不低于臺式洛氏硬度計。利用磁力吸盤將硬度計固定在鋼鐵工件表面，無需支撐，無需取樣，不用移動 工件，只要單側(cè)接觸即可完成測試。

數(shù)顯顯微維氏硬度計 2096     

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HVS-50型數(shù)顯維氏硬度計是光機電一體化的高新技術產(chǎn)品，具有良好的可靠性，可操作性，是小負荷維氏硬度計的升級換代產(chǎn)品。

X射線熒光光譜儀 3250     

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ARL ADVANT X 是一臺靈活、高性能的順序式 XRF 光譜儀，可分析周期表中多達84種元素?？蛇x四種功率（從 1200W 至 4200W ），不僅能優(yōu)化性能還可優(yōu)化日常和苛刻應用的操作成本。X 射線熒光光譜儀 （XRF） 分析是一項應用廣泛的分析技術，可利用簡易的樣品制備和無損分析，對各種固體和液體樣品進行元素分析。

X射線光電子能譜儀 2651     

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ESCALAB 250XI X射線光電子能譜儀是一臺多功能高性能的表面分析儀器，它可以用于研究各種固體材料樣品表面（1-10NM厚度）的元素種類、化學價態(tài)以及相對含量。結(jié)合離子刻蝕技術還可以獲得元素及化學態(tài)深度分布信息；通過成像技術可以獲得元素及化學態(tài)的面分布信息；利用微聚焦X射線源或電子束可以獲得微區(qū)表面信息。

電子探針顯微鏡（EPMA） 3303     

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日本電子 JXA-8230電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是能完全滿足多種需求的強力分析工具之一。

激光粒度儀（粒度/zeta） 2081     

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ZETASIZER NANO ZS90 ZETA電位分析儀是一款高性價比的分子/粒度和ZETA電位分析儀。使用動態(tài)光散射以90度散射角測量顆粒和分子粒度，具有使用激光多普勒微電泳測量ZETA電位和電泳遷移率的能力，以及使用靜態(tài)光散射測量分子量。動態(tài)光散射檢測由于顆粒布朗運動而產(chǎn)生的散射光的波動隨時間的變化。檢測器將散射光信號轉(zhuǎn)化為電流信號，再通過數(shù)字相關器的運算處理，得到顆粒在溶液中擴散的速度信息，即擴散系數(shù)。通過STOCKES-EINSTEIN方程可以得到粒徑大小及其分布。

等離子聚焦離子束系統(tǒng) 2290     

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蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列，是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結(jié)合。無論是加工、成像或進行3D分析，都能在不損失精度的前提下，提高聚焦離子束的應用效率。

X射線衍射儀 2581     

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X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構(gòu)、應力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！

拉曼光譜儀 2310     

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拉曼光譜儀是測定分子振動光譜的儀器，可用于有機化合物、無機化合物、高分子聚合物、生物膜等各種材料的結(jié)構(gòu)特性分析。采用共焦光路設計，研究物質(zhì)成分的判定與確認；與紅外光譜互補， 是分析物質(zhì)組分、結(jié)構(gòu)等的光譜分析手段之一。

場發(fā)射掃描電子顯微鏡 3113     

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日立場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8020采用日立技術公司全新開發(fā)的冷場電子槍，實現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時，穩(wěn)定的束流亦可滿足長時間下的分析需求。是利用二次電子和背散射電子信號，通過真空系統(tǒng)、電子束系統(tǒng)和成像系統(tǒng)獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等的一種分析儀器。

原子力顯微鏡 2868     

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DIMENSION ICON 可以實現(xiàn)所有主要的掃描探針成像技術，其測試樣品尺寸可達：直徑210MM，厚度15MM。溫度補償位置傳感器使Z-軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平。對于大樣品、90微米掃描范圍的系統(tǒng)來說，這種噪音水平超越了所有的開環(huán)掃描高分辨率的原子力顯微鏡。全新的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大提高了掃描速度。

EBSD背散射 2085     

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EBSD——電子背散射衍射儀——是一種強大的微觀分析儀器，它能精密的分析和表征晶態(tài)材料的微觀組織和性能，提高速度和數(shù)據(jù)質(zhì)量。 SYMMETRY是牛津儀器公司基于CMOS技術發(fā)展的全新一代EBSD探測器，擁有空前的性能和易用性。

場發(fā)射透射電子顯微鏡 3029     

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TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡是一個多功能、多用戶環(huán)境的200KV場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明場、暗場像和髙分辨像，能進行選區(qū)電子衍射，能進行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EⅨ點、線掃描的可以進行微區(qū)能譜分析。