（霍爾）遷移率 1359     

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設(shè)備主要利用微波測(cè)試原理，非接觸式測(cè)量射頻HEMT結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體材料的方阻、遷移率及載流子濃度?？蓪?shí)現(xiàn)單點(diǎn)測(cè)試， 亦可以實(shí)現(xiàn)面掃描的測(cè)試功能，具有快速，無損，準(zhǔn)確等優(yōu)勢(shì)，可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)測(cè)及質(zhì)量控制。 特點(diǎn) 適用于遷移率量測(cè)范圍在100cm2/V ? s～3000cm2/V ? s 的射頻HEMT外延片。非接觸，非損傷測(cè)試，具有測(cè)試速度快， 重復(fù)性佳，測(cè)試敏感性高，可以直接測(cè)試產(chǎn)品片等優(yōu)點(diǎn)。

方阻(電阻率)測(cè)試儀(片與錠） 1407     

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設(shè)備主要利用渦電流測(cè)試原理，非接觸測(cè)試半導(dǎo)體材料，石墨烯，透明導(dǎo)電膜，碳納米管，金屬等材料的方阻（電阻率）。 可實(shí)現(xiàn)單點(diǎn)測(cè)試，亦可以實(shí)現(xiàn)面掃描的測(cè)試功能，可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)測(cè)及質(zhì)量控制。 本儀器為非接觸，非損傷測(cè)試，具有測(cè)試速度快，重復(fù)性佳，測(cè)試敏感性高，可以直接測(cè)試產(chǎn)品片。

非接觸式無損檢測(cè)設(shè)備 1372     

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非接觸式無損方塊電阻測(cè)試儀、晶圓方阻測(cè)試儀、方阻測(cè)試儀、硅片電阻率測(cè)試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測(cè)試儀、遷移率(霍爾)測(cè)試儀、少子壽命測(cè)試儀,晶圓、硅片厚度測(cè)試儀、表面光電壓儀JPV\SPV.汞CV. ECV。為碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測(cè)試和解決方案。 憑借技術(shù)和豐富的產(chǎn)品設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)，申請(qǐng)各項(xiàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)17余項(xiàng),已發(fā)展成為中國(guó)大陸少數(shù)具有一定競(jìng)爭(zhēng)力的半導(dǎo)體專用設(shè)備提供商，產(chǎn)品得到眾多國(guó)內(nèi)外主流半導(dǎo)體廠商的認(rèn)可，并取得良好的市場(chǎng)口碑。

XNDT-101鑄造件缺陷在線檢測(cè)機(jī) 3936     

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XNDT-101主要由X射線源、線陣探測(cè)器、傳動(dòng)系統(tǒng)和主機(jī)電腦組成，實(shí)現(xiàn)對(duì)鑄造件內(nèi)部缺陷的在線檢測(cè)。

XNDT-102 便攜式探傷儀 3234     

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XNDT-102便攜式成像系統(tǒng)由1個(gè)探測(cè)器盒、1臺(tái)便攜式射線源和1臺(tái)筆記本電腦組成，可用于公共安全場(chǎng)合的包裹安全檢查、工業(yè)無損檢測(cè)等。

Proceq Profometer Corrosion腐蝕、電阻率和透氣性檢測(cè)儀 2378     

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先進(jìn)的半電池測(cè)量?jī)x器，可對(duì)腐蝕電位進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)映射。專用軟件可使用棒式和輪式電極進(jìn)行輔助測(cè)量。統(tǒng)計(jì)軟件可直接進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。

proceq Equotip Bambino 2 經(jīng)濟(jì)實(shí)惠、使用方便的便攜式硬度計(jì) 2557     

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簡(jiǎn)單直觀的金屬硬度檢測(cè) – Equotip Bambino 2 是獨(dú)立的，不會(huì)將指示平臺(tái)與線纜分離開來。Equotip Bambino 2 是一款經(jīng)濟(jì)實(shí)惠、使用方便的便攜式回彈檢測(cè)儀，可測(cè)量大多數(shù)金屬的硬度。 它的結(jié)構(gòu)輕巧緊湊，并配有創(chuàng)新的沖擊設(shè)備 D，具有無可比擬的性價(jià)比。

proceq Equotip Piccolo 2創(chuàng)新的便攜式里氏硬度計(jì) 2853     

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Equotip Piccolo 2是一款創(chuàng)新的便攜式硬度測(cè)試儀，可對(duì)所有金屬材料進(jìn)行硬度測(cè)量。

proceq博勢(shì)便攜式金屬里氏硬度計(jì) Equotip 550 Leeb D 2288     

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新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專家精心設(shè)計(jì)的界面，提高了檢測(cè)效率和改善用戶體驗(yàn)。 改進(jìn)的軟件可提供互動(dòng)向?qū)А⒆詣?dòng)驗(yàn)證進(jìn)程、個(gè)性化選項(xiàng)和自定義報(bào)告功能。 此外，該儀器可兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品。 全彩顯示屏使您能夠執(zhí)行高質(zhì)

proceq博勢(shì)Equotip 550 Portable Rockwell便攜式洛氏硬度計(jì) 2140     

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用于刮擦敏感、拋光及細(xì)小部件的 Portable Rockwell 硬度檢測(cè)儀。它通過微米級(jí)的細(xì)小穿透能力及靈敏度。堅(jiān)固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。

Equotip Live Leeb D 便攜式硬度計(jì)，里氏硬度計(jì) 2953     

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Equotip Live Leeb D 為便攜式硬度檢測(cè)創(chuàng)造了新機(jī)會(huì)。您可使用 Equotip iOS 在遠(yuǎn)程位置執(zhí)行測(cè)量并讓您的團(tuán)隊(duì)即時(shí)訪問您的結(jié)果。無需親自運(yùn)送 U 盤或通過電子郵件手動(dòng)發(fā)送報(bào)告。

Proceq博勢(shì)Equotip Live UCI 便攜式維氏硬度計(jì) 2544     

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世界上首款無線 UCI 檢測(cè)儀。Equotip Live UCI 為便攜式硬度檢測(cè)創(chuàng)造了新機(jī)會(huì)。您可使用 Equotip iOS 在遠(yuǎn)程位置執(zhí)行測(cè)量并讓您的團(tuán)隊(duì)即時(shí)訪問您的結(jié)果。無需親自運(yùn)送 U 盤或通過電子郵件手動(dòng)發(fā)送報(bào)告。

瑞士博勢(shì)便攜式探傷儀 Proceq UT8000 2549     

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用于金屬和復(fù)合材料零件的探傷、實(shí)現(xiàn)便攜且用戶友好的超聲波測(cè)試

博勢(shì)Proceq PaperSchmidt 紙卷分析回彈儀，紙卷硬度計(jì) 3005     

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PaperSchmidt 是首款專門為測(cè)試紙卷分析數(shù)據(jù)而設(shè)計(jì)的集成回彈儀。它具有高精度和可重復(fù)性，可實(shí)時(shí)提供評(píng)估紙卷質(zhì)量所需的所有關(guān)鍵參數(shù)。PaperSchmidt 具有更長(zhǎng)的使用壽命，以應(yīng)對(duì)造紙工業(yè)的繁重需求。

Proceq Rock Schmidt巖石檢測(cè)回彈儀，巖石硬度計(jì) 2512     

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RockSchmidit是 SilverSchmidt的另一特定版本，專門適用于巖石檢測(cè)應(yīng)用，如UCS關(guān)聯(lián)或預(yù)測(cè)隧道鉆孔機(jī)器和旋轉(zhuǎn)輥式切料機(jī)的穿透率。

Proceq Zehntner ZG8000光澤度儀 2431     

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全而適用：只需一臺(tái)設(shè)備，既可獨(dú)立運(yùn)作，又可聯(lián)網(wǎng)貨在線生產(chǎn)，甚至可以開展非接觸式生產(chǎn)。 極致便攜：有史以來最小巧、最輕盈的實(shí)時(shí)光澤儀，憑借人體工程學(xué)設(shè)計(jì)盒細(xì)小支撐而積，輕松測(cè)量各方向的狹窄、彎曲空間。 數(shù)字技術(shù)：智能化軟件讓您能夠通過語音、照片和備注為測(cè)量數(shù)據(jù)增添注釋。生產(chǎn)報(bào)告，還可與同事和客戶立即共享。隨時(shí)隨地都可訪問數(shù)據(jù)。

Equotip 550 UCI 便攜式超聲波維氏硬度計(jì) 2260     

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靈活的 UCI 硬度檢測(cè)儀用于具有任何形狀和熱處理表面的細(xì)粒材料?？烧{(diào)節(jié)檢測(cè)可負(fù)載和涵蓋廣泛的測(cè)試范圍。堅(jiān)固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。