熔鹽電導(dǎo)率測試儀 827     

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1. 結(jié)構(gòu)簡單； 2.擁有導(dǎo)向式電導(dǎo)池專利技術(shù)，測量數(shù)據(jù)精準(zhǔn)、穩(wěn)定； 3. 采用小型電爐，小尺寸坩堝，實(shí)驗(yàn)成本低； 4. 爐底升降，取放試料方便。

熔鹽物性綜合測試儀 824     

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RT-6熔鹽物性綜合測試儀的主要功能是測量熔鹽的密度、表面張力、電導(dǎo)率和初晶溫度，還可以利用設(shè)備的熱稱重系統(tǒng)和精確定位系統(tǒng)開展相應(yīng)的研究工作，例如研究熔鹽的揮發(fā)損失。 本設(shè)備采用陶瓷纖維整體爐膛、雙螺旋硅碳管、程序控溫系統(tǒng)、不銹鋼爐殼。 本設(shè)備采用伺服系統(tǒng)控制升降臺(tái)和測量電極精準(zhǔn)定位，配合測控軟件實(shí)現(xiàn)了熔體液面的自動(dòng)識(shí)別和測量電極的精確移動(dòng)，為高精度的測量提供了基礎(chǔ)。 本設(shè)備擁有2項(xiàng)專利技術(shù)，保持著測量方法和實(shí)驗(yàn)技術(shù)的先進(jìn)性，為高精度熔鹽物性測量提供了有力保證。

接觸式高精度鉑熱電阻測溫儀 900     

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本儀器是一款使用PT1000鉑熱電阻作為傳感器測量溫度信號(hào)的高精度熱電阻溫度計(jì)。大液晶屏幕顯示，0.01高顯示分辨率，測量精度可達(dá)±0.1℃。具有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與查詢功能。廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)、研發(fā)實(shí)驗(yàn)、質(zhì)量控制、冷藏存儲(chǔ)、汽車制造等多種場合。

高溫真空粘度儀 1390     

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本儀器是基于旋轉(zhuǎn)法而研制的熔體粘度儀，可實(shí)現(xiàn)在真空或保護(hù)氣氛下測試玻璃、渣類以及煤灰保護(hù)渣等材料的粘度。

熔鹽粘度儀 1394     

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本儀器是基于旋轉(zhuǎn)法而研制的熔鹽粘度儀，專用于高溫低粘度液態(tài)熔鹽樣品的粘度測量。

熔鹽物性綜合測試儀 1362     

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本產(chǎn)品主要用于高溫液態(tài)熔鹽的密度、電導(dǎo)率、初晶溫度和表面張力的測量。

振蕩杯粘度儀 1378     

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本產(chǎn)品是基于扭擺法原理，為非接觸式高分辨測量，尤其適用于大密度、低粘度合金或金屬的粘度測試。

電子分析天平 1433     

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FA1004A電子分析天平人性化設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)新穎、五面全透明的玻璃防風(fēng)罩。采用電磁平衡稱量傳感器，保證了產(chǎn)品的高精度。具有全自動(dòng)故障檢測，線性四點(diǎn)校準(zhǔn)，超載保護(hù)的保障。應(yīng)用行業(yè)：廣泛應(yīng)用于制藥業(yè)、化學(xué)工業(yè)、電子及半導(dǎo)體行業(yè)、塑膠原料、橡膠、煙草、茶葉、食品、淀粉、飼料、煤炭、型砂、污水污泥、乳業(yè)等行業(yè)。

鹵素快速水分測定儀 1454     

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深圳艾瑞斯ARS-SF10鹵素快速水分測定儀操作簡單，無需安裝、調(diào)試、培訓(xùn)，拆箱即可使用；彩色觸摸電容屏設(shè)計(jì)，實(shí)時(shí)顯示樣品狀態(tài)，一鍵式測定水分設(shè)計(jì)，自動(dòng)停機(jī)并顯示水分含量。應(yīng)用行業(yè)：廣泛應(yīng)用于制藥業(yè)、化學(xué)工業(yè)、電子及半導(dǎo)體行業(yè)、塑膠原料、橡膠、煙草、茶葉、食品、淀粉、飼料、煤炭、型砂、污水污泥、乳業(yè)等行業(yè)。

黑色金屬電腦多元素分析儀 2035     

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黑色金屬電腦元素分析儀器NJS-ZN207型可檢測多種材料：普通鋼、低合金鋼、不銹鋼、生鑄鐵、球墨鑄鐵、耐磨鑄鐵、合金鑄鐵、有色金屬、鐵礦石、鐵合金、鋁合金、銅合金中的多元素含量等。檢測結(jié)果直接電腦顯示，臺(tái)式打印機(jī)直接打印，并可打印各元素符號(hào)。

手持礦石分析光譜儀 2038     

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GF-5700手持礦石分析光譜儀可分析銅 鐵 鈦 釩 鉻 錳 鈷 鎳 鋅 鍶 鋯 鉭 鈮 鉬 錫 銻 鉿 鎢 鉛等自然礦石；暫時(shí)不能分析元素H, He, Li, Be, B, C, N, O，Mg, S, P, Si；現(xiàn)場快速分析各種金屬礦石化學(xué)成份及品位，滿足國內(nèi)外各種條件差、沒有分析試驗(yàn)室礦山單位，用于快速分析礦石成份及品位需求。溫度-35～+50℃，濕度＜80%RH。

激光手持光譜儀 4530     

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QR-L1利用高能量聚焦脈沖激光光束激發(fā)樣品表面，對產(chǎn)生的原子光譜通過算法分析得到對應(yīng)元素成分及含量,這是一種迅速定性及定量的工業(yè)應(yīng)用分析技術(shù)。

管式爐紅外碳硫分析儀 5267     

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QIR2002C型主要適用于鋼鐵、稀土金屬、鐵合金、磁性材料、有色金屬、碳化物、陶瓷、無機(jī)物、石墨、耐火材料、鐵礦、催化劑、爐渣、水泥、煤、焦炭、巖石及其它材料中碳、硫兩元素的質(zhì)量分?jǐn)?shù)的測定。

金相分析檢測專用中低速精密切割機(jī) 6215     

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中低速精密切割機(jī)，設(shè)計(jì)緊湊，依靠重力提供恒定的進(jìn)給率自動(dòng)切割，樣品產(chǎn)生的變形小，切口損失率低。適用于各種金屬材料，線路板和半導(dǎo)體等的精密切割。設(shè)備配有多種夾具，可切割不規(guī)則形狀的工件，是企業(yè)和科研院校理想的精密切割設(shè)備。

無級變速金相分析研磨拋光機(jī) 6114     

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雙盤雙控手動(dòng)磨拋機(jī)是集金相試樣預(yù)磨、研磨和拋光等多功能于一體，動(dòng)力 強(qiáng)，噪音低，堅(jiān)固耐用，操作簡單，每個(gè)工作盤可獨(dú)立控制啟停和調(diào)整速度，兩人可以同 時(shí)獨(dú)立操作，是企業(yè)和科研院校理想的研磨拋光機(jī)。

D300 經(jīng)濟(jì)型高精度臺(tái)階儀 3231     

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Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測量，與材料特性無關(guān)。可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行測量。通過測量粗糙度和應(yīng)力，可以對工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的多種變化。

ezAFM-便攜式原子力顯微鏡 3195     

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ezAFM是新設(shè)計(jì)的精致型原子力顯微鏡，具有設(shè)計(jì)緊湊、美觀大方、高穩(wěn)定性、占用空間小等特點(diǎn)，而且軟件功能強(qiáng)大、操作簡單、用戶界面良好，而且價(jià)格實(shí)惠，性價(jià)比較為高。它是理想的實(shí)驗(yàn)室用原子力顯微鏡，廣泛應(yīng)用于高等教育、納米技術(shù)教育和基礎(chǔ)研究等領(lǐng)域。產(chǎn)品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學(xué)、磁學(xué)等拓展模式，以及液相、真空環(huán)境等。

MVI原子力顯微鏡與可見-紅外-拉曼聯(lián)用系統(tǒng) 3222     

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原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)經(jīng)過30多年的發(fā)展后，從形貌測試及其它常規(guī)功能來看已經(jīng)非常成熟。然而常規(guī)的原子力顯微鏡也越來越無法滿足科研人員在納米尺度下對于樣品進(jìn)行多性質(zhì)原位測試分析的需求，尤其在化學(xué)、光學(xué)、電學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)等領(lǐng)域。 在具備常規(guī)原子力顯微鏡功能的條件下，基于光誘導(dǎo)力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術(shù)，結(jié)合波長可調(diào)的可見-紅外光源，從而實(shí)現(xiàn)10nm以下空間分辨可見-紅外成像與光譜采集，無需遠(yuǎn)場光學(xué)接收器及光譜儀。 此外，VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類拉曼光譜儀

VITA　反應(yīng)離子刻蝕機(jī)（垂直腔室） 1840     

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反應(yīng)離子刻蝕系統(tǒng)，垂直腔室

SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 2058     

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SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 工作原理基于表面等離子共振（SPR）技術(shù)。是將表面等離子體共振技術(shù)和光學(xué)顯微鏡巧妙結(jié)合為一體的生物傳感檢測儀?？梢酝瑫r(shí)得到細(xì)胞原位明場成像、SPR成像、及SPR動(dòng)力學(xué)曲線定量親和常數(shù)、結(jié)合解離常數(shù)，它為免標(biāo)記研究分子相互作用的領(lǐng)域開辟一個(gè)嶄新的前沿。專門針對細(xì)胞膜蛋白和相關(guān)分子免標(biāo)記檢測而設(shè)計(jì)的SPRm200， 使您在不需要從細(xì)胞中提取和分離膜蛋白的前提下實(shí)時(shí)觀察細(xì)胞結(jié)構(gòu)并同時(shí)測量藥物和靶點(diǎn)在細(xì)胞上的結(jié)合過程。還可進(jìn)行對藥物和在天然狀態(tài)下的膜蛋白之間相互作用的測量，高分辨SPR成像，可

原位納米壓痕儀 2158     

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NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測試；也可以直接在大氣環(huán)境下測試樣品的硬度、楊氏模量或者其它物理力學(xué)性能。 NanoFlip在硬度和楊氏模量測試、連續(xù)剛度測試（CSM）、力學(xué)性能譜圖（Mapping）、納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析（DMA）、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試中表現(xiàn)出色，可同時(shí)將SEM圖像與力學(xué)測試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip還可以進(jìn)行快速壓痕測量，這是在惰性環(huán)境（如手套箱）中研究非均相材料的重要手段。

Candela CS920表面缺陷檢測儀 1862     

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KLA Candela光學(xué)表面缺陷分析儀（OSA）可對半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行先進(jìn)的表面檢測。Candela系列既能夠檢測Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板，又能對SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料進(jìn)行檢測，成為其制程中品質(zhì)管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光學(xué)表面分析（OSA）專用技術(shù)，可同時(shí)測量散射強(qiáng)度、形狀變化、表面反射率和相位轉(zhuǎn)移，為特征缺陷（DOI）進(jìn)行自動(dòng)偵測與分類。OSA檢測技術(shù)結(jié)合散射測量、橢圓偏光、反射測量與光學(xué)形狀分析等基本原理，以非破環(huán)性方式對Wafer表面的殘留異物，表面與表面下缺陷，形狀變化和薄膜厚度

電阻率測試儀 1722     

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Filmetrics的薄膜電阻測量設(shè)備開發(fā)源自于有著超過30年經(jīng)驗(yàn)的KLA的薄膜電阻計(jì)量技術(shù)，并由20年臺(tái)式測量設(shè)備開發(fā)經(jīng)驗(yàn)的Filmetrics團(tuán)隊(duì)完善了桌面式方塊電阻測量產(chǎn)品。KLA薄膜電阻測量技術(shù)包括接觸（4PP）和非接觸（EC）方法。 Filmetrics的R50系列方塊電阻測量儀器可測量沉積在多種基材上的導(dǎo)電片和薄膜，跨越10個(gè)數(shù)量級范圍電阻率，包括：半導(dǎo)體晶圓基板、玻璃基板、塑料（柔性）基材、PCB圖案特征、太陽能電池、平板顯示層和圖案化特征、金屬箔

Desk V 薄膜沉積解決方案 1792     

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Desk V樣品制備系統(tǒng)配制用于蒸發(fā)和濺射，是一種高生產(chǎn)率的解決方案，可提供卓越、一致和高度可重復(fù)的結(jié)果。 Desk V鍍膜系統(tǒng)提供兩種版本：Desk V HP和Desk V TSC。Desk V TSC，是渦輪分子泵濺射鍍膜機(jī)選項(xiàng)，專為高分辨率顯微鏡樣品設(shè)計(jì)，適用于氧化和非氧化金屬。Desk V磁控濺射裝置精確沉積導(dǎo)電鍍膜，其熱蒸發(fā)選項(xiàng)可以沉積薄碳層(使用棒材或紗線)。

D300 經(jīng)濟(jì)型高精度臺(tái)階儀 1767     

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Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測量，與材料特性無關(guān)?？烧{(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行測量。通過測量粗糙度和應(yīng)力，可以對工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的多種變化。

ezAFM-便攜式原子力顯微鏡 1765     

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ezAFM是新設(shè)計(jì)的精致型原子力顯微鏡，具有設(shè)計(jì)緊湊、美觀大方、高穩(wěn)定性、占用空間小等特點(diǎn)，而且軟件功能強(qiáng)大、操作簡單、用戶界面良好，而且價(jià)格實(shí)惠，性價(jià)比較為高。它是理想的實(shí)驗(yàn)室用原子力顯微鏡，廣泛應(yīng)用于高等教育、納米技術(shù)教育和基礎(chǔ)研究等領(lǐng)域。產(chǎn)品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等掃描，可以用于電學(xué)、磁學(xué)等拓展模式，以及液相、真空環(huán)境等。

MVI原子力顯微鏡與可見-紅外-拉曼聯(lián)用系統(tǒng) 2124     

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在具備常規(guī)原子力顯微鏡功能的條件下，基于光誘導(dǎo)力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術(shù)，結(jié)合波長可調(diào)的可見-紅外光源，從而實(shí)現(xiàn)10nm以下空間分辨可見-紅外成像與光譜采集，無需遠(yuǎn)場光學(xué)接收器及光譜儀。VistaScope原子力顯微鏡還可以與各類拉曼光譜儀進(jìn)行聯(lián)用，組成原子力顯微鏡與可見-紅外-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)，以滿足科研人員在納米尺度下的測試需求。

P7 晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀 1764     

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KLA是全球半導(dǎo)體在線檢測設(shè)備市場較大的供應(yīng)商，在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、 MEMS 、太陽能、光電子以及其他領(lǐng)域中有著不俗的市占率。 P-7是KLA公司的第八代探針式臺(tái)階儀系統(tǒng)，歷經(jīng)技術(shù)積累和不斷迭代更新，集合眾多技術(shù)優(yōu)勢。 P-7建立在市場領(lǐng)先的P-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。 它保持了P-17技術(shù)的測量性能，并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了好的性價(jià)比。 P-7可以對臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接。從可靠性表現(xiàn)來看， P-7具有較好的測量重復(fù)性。UltraLite?傳感器具有動(dòng)態(tài)力控制，

實(shí)驗(yàn)室合金顎式破碎機(jī) 4661     

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LHMY-HJ125x150顎式合金破碎機(jī) 一、概述： 顎式合金破碎機(jī)主要用于化驗(yàn)室，對原材料的中碎和細(xì)碎,其破碎方式為曲動(dòng)擠壓式。被破碎物料的大塊度應(yīng)小于其選用機(jī)器型號(hào)料口尺寸的10-60毫米。被破碎物料的抗壓強(qiáng)度為中等硬度。配用合金材質(zhì)鄂板，如破碎物料有其它要求可提前定貨。

場發(fā)射透射電子顯微鏡 3294     

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JEM-2100F 應(yīng)用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體到納米技術(shù)。 利用200KV場發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實(shí)現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察，同時(shí)，還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。 高亮度的場發(fā)射電子槍，輕松實(shí)現(xiàn)各種分析功能。