一種適用于
鋰電池充放電探針老化測(cè)試裝置及老化方法,所述裝置包括機(jī)架;充放電測(cè)試裝置,設(shè)置在機(jī)架的測(cè)試區(qū),充放電測(cè)試裝置包括安裝架體、檢測(cè)單元和接觸單元;以及測(cè)試控制裝置,包括充放電處理器以及信號(hào)采集單元,充放電控制器設(shè)置在機(jī)架的安裝區(qū),充放電處理器與充放電測(cè)試裝置電連接;信號(hào)采集單元設(shè)置在機(jī)架的測(cè)試區(qū)和/或安裝區(qū);所述老化方法包括以下步驟:安裝好探針之后,調(diào)整探針位置直至探針與測(cè)試平臺(tái)接觸連接,然后對(duì)探針進(jìn)行老化測(cè)試,對(duì)不同溫度下探針壽命、接觸電阻、彈力、溫升進(jìn)行測(cè)定。本發(fā)明有益效果是:可以對(duì)探針進(jìn)行老化試驗(yàn),操作簡(jiǎn)單,更換方便,而且可以更換不同型號(hào)的探針。
聲明:
“適用于鋰電池充放電探針老化測(cè)試裝置及老化方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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