一種用于材料分析測試技術領域的X射線衍射樣品架的制備方法,具體步驟如下:(1)材料選擇:樣品架選擇單晶材料,利用晶體分析儀及勞厄衍射技術確定單晶的密排晶體學平面;(2)切割單晶樣品架毛坯:與單晶密排晶體學面偏離角度,切割出單晶片以及樣品架毛坯;(3)化學腐蝕樣品座:利用氫氟酸溶液,腐蝕樣品架毛坯表面,腐蝕出凹坑,同時利用隔絕材料聚乙烯,將樣品座以外區(qū)域與腐蝕溶液隔絕;(4)單晶樣品架與金屬片粘結:利用環(huán)氧樹脂,將單晶樣品架與金屬片進行復合,獲得X射線衍射樣品架。本發(fā)明所制備的X射線衍射樣品架,用于X射線衍射系統(tǒng),對被測樣品衍射信息不產生任何干擾,提高測量結果的可靠性,克服容易脆裂的缺點,延長其使用壽命。
聲明:
“X射線衍射樣品架的制備方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)