本發(fā)明提出了一種全反射X射線熒光光譜儀,包括:樣品室,其包括用于盛放樣品的樣品臺、樣品定位裝置和用于探測所述樣品受X射線照射時產(chǎn)生的熒光的探測器;X射線管發(fā)生裝置,用于發(fā)射X射線照射至所述樣品,所述X射線入射至所述樣品的入射角<0.1°;單色器裝置,用于將所述X射線形成單色光;控制裝置,用于接收所述探測器探測到的所述樣品產(chǎn)生的熒光和分析所述樣品中的元素及含量。本發(fā)明提出的一種全反射X熒光光譜儀,其以小于0.1°的角掠入射,整形成條狀的原級束被全反射,用于微量樣品和痕量元素化學(xué)分析。
聲明:
“全反射X射線熒光光譜儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)