本發(fā)明屬于無損檢測領域,具體地,涉及一種基于電容耦合效應的無損檢測成像裝置?;陔娙蓠詈闲臒o損檢測成像裝置,包括檢測探頭、信號發(fā)生器、濾波器、鎖相放大器、數(shù)據(jù)采集卡和計算機系統(tǒng);檢測探頭,包括環(huán)形激勵電極和無源電壓探針;環(huán)形激勵電極與信號發(fā)生器的電壓輸出端口連接,無源電壓探針與濾波器的輸入端口連接,濾波器的輸出端口與鎖相放大器的信號輸入端口連接,信號發(fā)生器的參考信號輸出端口與鎖相放大器的參考信號輸入端口連接,鎖相放大器的輸出端口、數(shù)據(jù)采集卡和計算機系統(tǒng)依次連接。本發(fā)明的檢測方式為非接觸式,無需耦合劑和表面處理,應用范圍廣,實施成本低;檢測結(jié)果以圖像形式直接呈現(xiàn)。
聲明:
“基于電容耦合效應的無損檢測成像裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)