本發(fā)明公開了一種利用光聲干涉成像進行無損檢測的方法,所用器件包括泵浦激光器1、透鏡2、檢測激光器4、分光鏡5、第一全反鏡6、第一光束整形器7、白屏8、第二光束整形器9和第二全反鏡10。利用該方法成像不用掃描,所成像既能反映材料表面的缺陷和均勻性,又能反映材料表面的光致聲波,是材料表面無損檢測和光致聲波研究的一種新技術。
聲明:
“利用光聲干涉成像進行無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)