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      光激勵紅外熱成像無損檢測方法、系統(tǒng)、存儲介質及終端

      1030   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網(wǎng)  
      2023-03-19 08:57:53
      本發(fā)明公開了一種光激勵紅外熱成像無損檢測方法、系統(tǒng)、存儲介質及終端,屬于光激勵紅外檢測技術領域,方法包括:基于L4范數(shù)建立對矩陣Y進行稀疏表示的優(yōu)化目標函數(shù),并通過交替迭代的方式求解優(yōu)化目標函數(shù),進而得到稀疏系數(shù)矩陣X;將稀疏系數(shù)矩陣X逆矩陣化,得到缺陷信息增強后的圖像序列。本發(fā)明基于L4范數(shù)建立對矩陣Y進行稀疏表示的優(yōu)化目標函數(shù),由于L4范數(shù)的特殊性質,使得基于L4范數(shù)的稀疏字典學習算法更易獲得與真實字典相近的字典,從而更好的恢復數(shù)據(jù)的稀疏表示,更好的提取弱缺陷信息,提高了缺陷檢測準確率。
      聲明:
      “光激勵紅外熱成像無損檢測方法、系統(tǒng)、存儲介質及終端” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
      我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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