本發(fā)明公開了一種無需測厚的晶粒尺寸超聲無損評價方法,所述方法通過對參考試塊進行數(shù)據(jù)采集,并用信號平均技術進行前處理,構造并計算衰減速率系數(shù)及平均衰減速率系數(shù),建立不含厚度測量值的晶粒尺寸超聲評價模型,對晶粒尺寸未知的試塊進行晶粒尺寸評價。該方法無需對厚度進行測量,規(guī)避了被測對象厚度測量不便和測量不準對后續(xù)平均晶粒尺寸的影響,且通過前處理的手段,有效提高了本發(fā)明方法的抗干擾能力,對金相法測得平均晶粒尺寸為87.7μm和103.5μm的兩個測試試塊,評價的結果分別為84.9μm和98.9μm,誤差控制在±5%內(nèi)??梢?,本發(fā)明的方法提供了一種不受厚度影響并可有效評價金屬材料晶粒尺寸的手段。
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