本發(fā)明提出了一種物質(zhì)精確探測的方法及測量系統(tǒng),涉及物質(zhì)探測技術(shù)領(lǐng)域。一種物質(zhì)精確探測的方法,通過發(fā)出的單向正旋高能場,激發(fā)被測物質(zhì)產(chǎn)生同頻單向正旋高能場并發(fā)生共振,形成引力異常區(qū),確定出引力異常區(qū)能量最強(qiáng)的位置,即為被測物質(zhì)的方位和距離。一種物質(zhì)精確探測的測量系統(tǒng)包括探礦儀器和紅外波束發(fā)射器,通過探礦儀器快速找出物質(zhì)的水平位置,再通過紅外波束發(fā)射器快速找出物質(zhì)的深度位置,最后快速精準(zhǔn)確定被測物質(zhì)三維空間內(nèi)的位置,其具有探測效率高、成本低、分辨率高等特點(diǎn)。
聲明:
“物質(zhì)精確探測的方法及測量系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)