本發(fā)明公開一種針對(duì)小樣本的航天
復(fù)合材料夾雜缺陷的深度學(xué)習(xí)檢測(cè)方法及系統(tǒng),通過X射線無損檢測(cè)技術(shù)獲取相關(guān)航天復(fù)合材料的圖像,構(gòu)造模型的訓(xùn)練數(shù)據(jù)集,然后構(gòu)建一個(gè)遷移學(xué)習(xí)特征提取網(wǎng)絡(luò),并將其與faster?rcnn對(duì)象檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行結(jié)合,最終形成一個(gè)針對(duì)小樣本數(shù)據(jù)集的對(duì)象檢測(cè)遷移學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)模型。本模型能較準(zhǔn)確的檢測(cè)出經(jīng)過X射線無損檢測(cè)技術(shù)獲取到的航天復(fù)合材料圖像中的夾雜缺陷的位置,使得整個(gè)檢測(cè)過程更加自動(dòng)化,從而節(jié)約了大量人工成本。
聲明:
“針對(duì)小樣本的航天復(fù)合材料夾雜缺陷的深度學(xué)習(xí)檢測(cè)方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)