本發(fā)明公開(kāi)了一種蜂巢結(jié)構(gòu)平面電容傳感器及薄層狀物成像檢測(cè)方法及裝置，涉及無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，主要目的在于解決薄層狀物成像檢測(cè)技術(shù)問(wèn)題。主要包括：蜂巢結(jié)構(gòu)平面?zhèn)鞲衅麝嚵校涑步Y(jié)構(gòu)傳感器的平面電容層析成像硬件裝置，采用T型開(kāi)關(guān)組合設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)電極工作模式切換硬件電路；新型傳感器陣列在單極激勵(lì)測(cè)量模式下，多通道信號(hào)采集部分結(jié)構(gòu)與采集控制方法。創(chuàng)新了敏感場(chǎng)均勻的蜂巢結(jié)構(gòu)的傳感器陣列設(shè)計(jì)，并用PCB FR4雙面板工藝制作；另外，創(chuàng)新了一種T型開(kāi)關(guān)組合控制并實(shí)現(xiàn)傳感器陣列單極激勵(lì)測(cè)量模式多通道采集控制方法及電路設(shè)計(jì)。所述創(chuàng)新應(yīng)用于平面電容層析成像的檢測(cè)裝置具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、快速響應(yīng)、非接觸和單側(cè)測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，為復(fù)合材料層內(nèi)探傷或薄層狀物內(nèi)部結(jié)構(gòu)可視化檢測(cè)提供有效的手段。