用于地質(zhì)薄層剖面的基于圖像的分析的技術(shù)包括(i)從來自地下區(qū)域的巖石樣本的地質(zhì)薄層剖面獲取多個(gè)圖像;(ii)操縱所述多個(gè)圖像以導(dǎo)出合成圖像;(iii)優(yōu)化合成圖像以導(dǎo)出種子圖像;(iv)在所述種子圖像中識(shí)別多個(gè)連續(xù)像素中的特定種子像素,所述特定種子像素包括種子圖像中巖石樣本的多個(gè)顆粒中的顆粒的圖像;(v)利用指定的算法基于種子像素確定顆粒的形狀;(vi)根據(jù)顆粒的形狀確定顆粒的尺寸;以及(vii)準(zhǔn)備顆粒的尺寸的確定結(jié)果以呈現(xiàn)給用戶。
聲明:
“地質(zhì)薄層剖面的基于圖像的分析” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)