本實(shí)用新型公開(kāi)了一種半導(dǎo)體在不同溫度下性能檢測(cè)設(shè)備,包括:檢測(cè)箱,所述檢測(cè)箱前后端分別通過(guò)鉸鏈轉(zhuǎn)動(dòng)安裝有密封門,所述檢測(cè)箱內(nèi)腔表面安裝有若干個(gè)加熱管,所述檢測(cè)箱內(nèi)腔上端安裝有兩個(gè)溫度監(jiān)測(cè)模塊,所述檢測(cè)箱內(nèi)腔安裝有兩個(gè)可升降移動(dòng)的升降架。本實(shí)用新型中,通過(guò)隔熱板,可以使其檢測(cè)箱內(nèi)形成兩個(gè)腔室,每個(gè)腔體通過(guò)不同的加熱管可以形成不同溫度,從而能夠使得半導(dǎo)體在一次檢測(cè)后,可以直接進(jìn)入預(yù)設(shè)好溫度的第二個(gè)腔室內(nèi)進(jìn)行二次檢測(cè),提高了檢測(cè)的效率,并且通過(guò)可密封的隔熱板,可以防止兩個(gè)腔室內(nèi)的溫度相互影響,通過(guò)C型槽可以套接插入半導(dǎo)體的兩端,將其架起懸空,使得半導(dǎo)體每個(gè)面都能接觸到溫度。
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“一種半導(dǎo)體在不同溫度下性能檢測(cè)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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