本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體激光器的工作性能檢測技術(shù),具體地說是一種半導(dǎo)體激光器的測試系統(tǒng)及測試方法,屬于半導(dǎo)體光電器件的制造技術(shù)領(lǐng)域。它包括待測光器件以及用于放置待測光器件的高低溫循環(huán)箱,待測光器件與一個能夠為待測光器件提供電流的電流源連接,待測光器件還與一個能夠測試其出光功率的光功率計連接,電流源和光功率計的輸出信號端均連接到一臺計算機上。采用上述的結(jié)構(gòu)和方法后,可以方便、有效、迅速地進行檢測,預(yù)先判定一個激光器的工作穩(wěn)定性和失效模式,從而大大縮短了檢驗的周期和降低了檢驗的成本,同時對生產(chǎn)過程進行有效的管控,將產(chǎn)品成本降到最低,同時保障了客戶利益,其測試的方法簡單方便,測試系統(tǒng)搭建的成本低。
聲明:
“一種半導(dǎo)體激光器的測試系統(tǒng)及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)