本申請(qǐng)公開了一種硬盤檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),該方法通過獲取硬盤存儲(chǔ)器對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)系統(tǒng)中目標(biāo)系統(tǒng)分層的響應(yīng)延遲,目標(biāo)系統(tǒng)分層為存儲(chǔ)系統(tǒng)中的任一層級(jí)系統(tǒng)分層;將目標(biāo)系統(tǒng)分層的響應(yīng)延遲與目標(biāo)系統(tǒng)分層對(duì)應(yīng)的延遲閾值進(jìn)行比較,得到目標(biāo)系統(tǒng)分層對(duì)應(yīng)的比較結(jié)果;基于比較結(jié)果,確定目標(biāo)系統(tǒng)分層是否存在卡頓。由此,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)硬盤進(jìn)行性能檢測(cè)時(shí),能夠定位到硬盤存儲(chǔ)器對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)系統(tǒng)中的系統(tǒng)分層進(jìn)行檢測(cè),實(shí)現(xiàn)硬盤性能的精準(zhǔn)檢測(cè)。
聲明:
“硬盤檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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