本發(fā)明公開了基于光氧化的銻形態(tài)
電化學(xué)檢測(cè)方法及其應(yīng)用。該方法依據(jù)三價(jià)銻和五價(jià)銻電化學(xué)活性的差異,采用陽極溶出伏安法,在不同富集電位條件下分別可測(cè)定三價(jià)銻和五價(jià)銻的溶出峰,其中三價(jià)銻的電化學(xué)信號(hào)不受五價(jià)銻存在的干擾;之后利用三價(jià)銻可光氧化的特點(diǎn),對(duì)樣品進(jìn)行光照后再測(cè)定以五價(jià)銻形式存在的總銻的含量,樣品中五價(jià)銻的含量由差減法計(jì)算得出。本發(fā)明的方法過程簡單可靠,受基質(zhì)干擾小、便于操作,且能在同一電解質(zhì)溶液中同時(shí)對(duì)三價(jià)銻和五價(jià)銻含量進(jìn)行檢測(cè)。
聲明:
“基于光氧化的銻形態(tài)電化學(xué)檢測(cè)方法及其應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)