本發(fā)明公開了一種樹枝狀納米金修飾玻碳電極
電化學(xué)檢測硒(Ⅳ)的方法。其方法步驟:利用恒電位沉積法,在玻碳電極上修飾具有多級分支的樹枝狀納米金結(jié)構(gòu),利用樹枝狀納米金比表面積大,活性位點(diǎn)多,可與硒(Ⅳ)形成Se?Au共價(jià)鍵的特點(diǎn),實(shí)現(xiàn)對硒元素的高靈敏檢測。本發(fā)明方法制備過程簡單,成本低廉,無污染。
聲明:
“樹枝狀納米金修飾玻碳電極電化學(xué)檢測硒(Ⅳ)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)