本實(shí)用新型公開(kāi)了一種
電化學(xué)金屬點(diǎn)蝕的同步監(jiān)測(cè)裝置,包括電解裝置、電化學(xué)工作站、顯微鏡、數(shù)字?jǐn)z像機(jī)以及計(jì)算機(jī),所述電解裝置與電化學(xué)工作站連接,所述電化學(xué)工作站與所述計(jì)算機(jī)連接,所述顯微鏡與所述數(shù)字?jǐn)z像機(jī)連接,所述數(shù)字?jǐn)z像機(jī)與所述計(jì)算機(jī)連接,所述電解裝置包括工作電極,所述顯微鏡的中心軸線與所述工作電極所在的平面垂直,所述顯微鏡用于監(jiān)測(cè)所述工作電極的表面狀態(tài)。本申請(qǐng)的電化學(xué)金屬點(diǎn)蝕的同步監(jiān)測(cè)裝置,能夠高效、實(shí)時(shí)觀察監(jiān)測(cè)金屬點(diǎn)蝕源的位置。
聲明:
“電化學(xué)金屬點(diǎn)蝕的同步監(jiān)測(cè)裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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