本發(fā)明提供了一種分析測試條(10)及盒體(30)。將測試條放置在支架中,支架的形狀和結(jié)構(gòu)使得檢測器能夠從測試條的側(cè)面而不是從縱軸方向接近測試條。支架可以容納一個或多個測試條,其還可以被設(shè)置在支架的一個或多個表面上。優(yōu)選地,支架通常是呈C型,同時測試條橫跨C型兩臂之間的空間。將支架進行密封以保護操作人員和儀器免受可能的污染。優(yōu)選地,測試條包埋有順磁粒子和用于粒子涂布的化學(xué)專用品。利用磁性讀取裝置可以進行定量分析。在另外的具體實施例中,可以通過目測方法來進行檢測。
聲明:
“易接近的分析裝置及其使用方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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