描述了一種利用近紅外光譜區(qū)的多光譜分析確定樣品中存在的被分析物濃度的方法和裝置。采用含有約1100至3500nm范圍中多個不同不相重疊波長區(qū)的入射輻射對樣品掃描。對樣品的漫反射輻射進行檢測,運用化學(xué)計量技術(shù)獲得表示被分析物濃度的值。能夠使每個不相重疊波長區(qū)所獲得的信息互相關(guān),以去除背景干擾。
聲明:
“無損傷性近紅外光譜儀的多光譜分析方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)