本發(fā)明公開了一種錐形微米孔表面電荷密度調(diào)控電致化學(xué)發(fā)光檢測的方法。該方法以微米孔為分析元件,以Ru(phen)
32+/TPrA研究模型,研究錐形微米孔表面電荷密度調(diào)控體系電流大小進(jìn)而調(diào)控Ru(phen)
32+/TPrA氧化反應(yīng)的法拉第電流傳遞效率,產(chǎn)生不同的電致化學(xué)發(fā)光信號。首次實(shí)現(xiàn)錐形微米孔表面電荷密度調(diào)控電致化學(xué)發(fā)光信號,該實(shí)驗裝置結(jié)構(gòu)簡單,成本低廉,使用方便,拓寬了電致化學(xué)發(fā)光的應(yīng)用范圍,具有廣闊的應(yīng)用前景。
聲明:
“錐形微米孔表面電荷密度調(diào)控電致化學(xué)發(fā)光信號的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)