本發(fā)明涉及材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及到一種
電化學(xué)組合材料
芯片,通過(guò)在一基底上集成樣品區(qū)域陣列,并于該區(qū)域中設(shè)置有集流電極與待測(cè)試的樣品,并通過(guò)一電極引線實(shí)現(xiàn)集流電極與金手指的電連接,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)各樣品分別獨(dú)立的通過(guò)集流電極、電極引線、金手指接口和一外部電化學(xué)測(cè)試儀形成電流通路,并進(jìn)行后續(xù)的電化學(xué)性能分析,并可以大大提高電化學(xué)性能測(cè)試的效率并完全滿足高通量電化學(xué)性能測(cè)試的要求。
聲明:
“電化學(xué)組合材料芯片” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)