提供了一種光學(xué)檢測方法和光學(xué)檢測裝置。光學(xué)檢測方法包括:將光束導(dǎo)向目標(biāo);從多個(gè)測試傳感器中選擇第一測試傳感器以與從目標(biāo)接收的輻射進(jìn)行比較,其中第一測試傳感器包括第一測試化學(xué)品;接收來自目標(biāo)的反射或散射光束;將來自第一測試化學(xué)品的第一光譜與使用線性檢測器陣列接收的反射或散射光束的光譜進(jìn)行比較;使用硬件處理器基于比較從目標(biāo)確定可能的化學(xué)品;以及基于確定提供輸出。
聲明:
“光學(xué)檢測方法和光學(xué)檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)