本發(fā)明涉及光譜標準樣品制備技術領域,尤其是涉及一種低合金鑄鐵光譜成套標準樣品及其制備方法和檢測方法,包括化學成分的設計,冶煉,成型,標準樣品的處理及制備,標準樣品初檢,單元內(nèi)檢驗,塊間均勻性檢驗,定值分析及標準值確定,穩(wěn)定性檢驗,成線性考察。通過本發(fā)明的方法制備得到的標準樣品使用范圍廣,樣品均勻性好,樣品中夾雜物含量低,樣品白口化徹底,且樣品具有長期穩(wěn)定性,成線性良好的特征,具有廣闊的應用前景。
聲明:
“低合金鑄鐵光譜成套標準樣品及其制備方法和檢測方法” 該技術專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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