本發(fā)明公開了一種納米粒子的檢測方法,將純度為99.99%的超薄鋁片在有機溶劑中超聲除油后,依次放入NaOH溶液和高氯酸乙醇溶液中進行
電化學拋光,除去表面氧化層,然后放入酸性電解液中,用石墨作為陰極氧化3~8小時,得到的
氧化鋁納米孔超薄板安裝到電路中;當納米粒子漂浮到氧化鋁納米孔超薄板時,電流會發(fā)生變化,通過測量電流變化量與單個微孔導通電流發(fā)生的變化量比較,即可得出該尺寸的納米粒子的濃度。本發(fā)明采用陽極氧化的方法來制備納米孔,通過工藝參數(shù)調(diào)整來實現(xiàn)納米空隙陣列,可檢測環(huán)境中10~300nm尺寸內(nèi)納米顆粒的存在及其濃度,納米空隙靈敏度高,可多次使用,不會產(chǎn)生環(huán)境污染及危害等技術(shù)問題,具有很好的實用價值和市場應(yīng)用前景。
聲明:
“納米粒子的檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)