本發(fā)明涉及掃描探針成像技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種基于單量子點的近場探針及探針體系,以及基于該探針體系的檢測裝置及方法。單量子點掃描近場光學顯微探針,是將單量子點通過靜電力或化學粘附劑裝載到介質(zhì)針尖用作探針,介質(zhì)針尖為錐形光纖或者原子力顯微鏡探針。本發(fā)明的近場探針體系能有效地克服傳統(tǒng)掃描近場光學探針扭曲樣品光學性質(zhì)、信噪比低、重復性差等缺陷;單量子點近場探針成像分辨率能達到與單量子點尺寸同一量級,一般優(yōu)于10納米空間分辨率。檢測方法具有基于熒光強度成像和熒光壽命成像,可傳感樣品形貌、材料成分、光學近場分布等多維度的物理量信息。
聲明:
“單量子點掃描近場光學顯微探針及體系、檢測裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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