本發(fā)明公開(kāi)了一種金屬細(xì)絲超薄金屬鍍層厚度的測(cè)量方法,實(shí)現(xiàn)了直徑小于20μm的金屬細(xì)絲,金屬鍍層厚度小于0.2μm時(shí)鍍層厚度的測(cè)量。首先取一定長(zhǎng)度的樣品,稱量出總質(zhì)量,采用化學(xué)檢測(cè)的方法,將其完全溶解,利用電感耦合等離子體光譜儀測(cè)試出鍍層金屬的質(zhì)量,樣品總質(zhì)量與鍍層金屬質(zhì)量的差即為金屬細(xì)絲的質(zhì)量。然后根據(jù)金屬細(xì)絲的質(zhì)量,通過(guò)計(jì)算得到金屬細(xì)絲的半徑。最后利用掃描電子顯微鏡測(cè)試包含鍍層的樣品的直徑,計(jì)算得出包含鍍層樣品的半徑,該半徑即為金屬細(xì)絲的半徑與鍍層厚度的和,再減去金屬細(xì)絲的半徑即得金屬鍍層厚度。本發(fā)明的測(cè)試方法提高了超薄鍍層厚度測(cè)試的準(zhǔn)確度,具有很高的可操作性、重復(fù)性和再現(xiàn)性。
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“金屬細(xì)絲超薄金屬鍍層厚度測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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