本發(fā)明屬于分子檢測領(lǐng)域,具體涉及一種基于固態(tài)納米孔技術(shù)的多糖單分子結(jié)構(gòu)解析方法。本發(fā)明提出了一種利用化學(xué)修飾過的納米孔對多糖分子進(jìn)行檢測的方法,創(chuàng)造性地將固態(tài)納米孔單分子檢測技術(shù)應(yīng)用于多糖分子的檢測之中,依照多糖分子通過納米孔時(shí)與孔內(nèi)修飾物相互作用產(chǎn)生的特征電流信號,建立一套高靈敏度、高特異性的多糖分子檢測體系。同時(shí)對比不同修飾物以及不同多糖樣品檢測的數(shù)據(jù),以分析找出更優(yōu)化的化學(xué)修飾物從而對比不同多糖分子間的結(jié)構(gòu)差異。本發(fā)明提供了一種化學(xué)修飾的固態(tài)納米孔用來檢測多糖,具體為:采用多級電流脈沖擊穿法制備固態(tài)納米孔,并對固態(tài)納米孔進(jìn)行
硅烷化修飾和精氨酸修飾;并驗(yàn)證了多糖過孔時(shí)的信號變化。
聲明:
“基于固態(tài)納米孔技術(shù)的多糖單分子結(jié)構(gòu)解析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)