本發(fā)明提供一種篩選不受補(bǔ)體干擾的單克隆抗體對的方法,包括以下步驟:S10:獲得陰性樣本混合物;S20:在陰性樣本混合物中加入抗原,獲得檢測樣本一;S30:對陰性樣本混合物進(jìn)行加熱,并加入抗原,獲得檢測樣本二;S40:在檢測樣本二中加入補(bǔ)體,獲得檢測樣本三;S50:用待選單克隆抗體對制備的化學(xué)發(fā)光試劑,對檢測樣本一、檢測樣本二和檢測樣本三分別進(jìn)行免疫化學(xué)發(fā)光檢測,獲得檢測結(jié)果一、檢測結(jié)果二、檢測結(jié)果三;S60:根據(jù)檢測結(jié)果一、檢測結(jié)果二、檢測結(jié)果三,獲得不受補(bǔ)體干擾的單克隆抗體對。本發(fā)明解決了免疫診斷常常受到補(bǔ)體干擾,影響免疫檢測的準(zhǔn)確性的技術(shù)問題,實(shí)現(xiàn)了免疫診斷不易受補(bǔ)體干擾,提高免疫診斷準(zhǔn)確性的技術(shù)效果。
聲明:
“篩選不受補(bǔ)體干擾的單克隆抗體對的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)