本發(fā)明涉及一種反滲透系統(tǒng)污堵的非破壞性查定方法,其是采用等離子體發(fā)射光譜儀對反滲透系統(tǒng)進(jìn)水、反滲透化學(xué)清洗后的廢液以及反滲透系統(tǒng)污堵物質(zhì)進(jìn)行元素分析,以確定造成反滲透系統(tǒng)污堵的原因。本發(fā)明不需要反滲透系統(tǒng)停運(yùn),在反滲透系統(tǒng)運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行,可同時(shí)進(jìn)行其他方面的試驗(yàn)和措施,且不會(huì)造成反滲透膜的破壞性損壞,有效降低分析成本。
聲明:
“反滲透系統(tǒng)污堵的非破壞性查定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)