本發(fā)明提供了一種采用太赫茲無損檢測技術表征納米結構熱障涂層微結構的方法,包括:調(diào)節(jié)工藝制備不同微結構涂層,采用金相分析確定涂層微結構特征;太赫茲無損檢測,獲陶瓷涂層實折射率;構建實折射率和涂層微結構特征的線性關系;基于線性關系,構建實折射率與涂層微結構特征的范圍比對關系,利用該范圍比對關系可以通過太赫茲無損檢測定性或半定量分析不同工藝制備涂層的涂層微結構特征。本發(fā)明具備無損、高效、操作便捷和檢測精度高的特點。同時,本發(fā)明方法的數(shù)據(jù)結果呈現(xiàn)了數(shù)據(jù)參數(shù)規(guī)律導向性明確,數(shù)據(jù)表征方法簡便、高效和科學性的特點,可為控制涂層質(zhì)量或為工藝優(yōu)化提供快速有效的無損檢測提供有力支撐。
聲明:
“采用太赫茲無損檢測技術表征納米結構熱障涂層微結構的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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