本發(fā)明提供了一種相控陣微波成像無(wú)損檢測(cè)裝置及方法,包括:計(jì)算機(jī)、微波源、功率放大器、功率分配器、控制器、陣列天線、饋線、信號(hào)采集與處理器、變位機(jī);計(jì)算機(jī)分別與控制器、信號(hào)采集與處理器、變位機(jī)連接;所述計(jì)算機(jī)包括一個(gè)檢測(cè)模塊,所述檢測(cè)模塊提供掃描控制參數(shù),計(jì)算機(jī)將檢測(cè)模塊提供的掃描控制參數(shù)發(fā)送至控制器;控制器根據(jù)接收到的控制參數(shù),控制微波源產(chǎn)生微波信號(hào),微波源將微波信號(hào)傳輸至功率放大器。本發(fā)明所述的一種微波相控陣無(wú)損檢測(cè)裝置及方法相比于傳統(tǒng)的方法,具有精度高、效率高、可實(shí)時(shí)成像等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“相控陣微波成像無(wú)損檢測(cè)裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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