本發(fā)明公開(kāi)了一種多缺陷材料M積分的無(wú)損測(cè)量方法,通過(guò)數(shù)字散斑相關(guān)技術(shù),利用光學(xué)測(cè)量設(shè)備ARAMIS?4M(GOM?mbh)測(cè)得試件表面的位移場(chǎng);通過(guò)均值濾波器對(duì)位移場(chǎng)進(jìn)行平滑處理,并利用三次樣條擬合求得位移場(chǎng)沿兩個(gè)坐標(biāo)軸的梯度;通過(guò)材料本構(gòu)方程,計(jì)算材料表面應(yīng)力場(chǎng)及應(yīng)變能密度分布;代入M積分的定義表達(dá)式,選取包含缺陷的任意閉合路徑,通過(guò)數(shù)值積分計(jì)算M積分值。該方法適用于各種不同的缺陷及缺陷群,可用于評(píng)估航天、航空、機(jī)械等領(lǐng)域各種形式的材料損傷與結(jié)構(gòu)完整性。
聲明:
“多缺陷材料M積分的無(wú)損測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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