本發(fā)明公開了一種編碼結(jié)構(gòu)光的階次無損校正方法,所述方法包括以下步驟:構(gòu)建由投影系統(tǒng)、以及相機(jī)組成的結(jié)構(gòu)光三維測量系統(tǒng);由相移法獲取正常光柵順序的包裹相位與改變相移順序獲得的包裹相位
和
并分別提取兩組包裹相位的跳變位置D
1和D
2,再通過求相交的方法確定需校正位置P
1;經(jīng)過解包裹運(yùn)算可得絕對相位值Φ(x,y),對絕對相位值Φ(x,y)采用相位比較方法對相位跳變點(diǎn)處P
1處的階次值進(jìn)行校正;通過八鄰域遍歷尋找前述未處理完全的階次噪聲,并運(yùn)用鄰域相位比較方法對階次噪聲的階次值進(jìn)行校正。本發(fā)明解決了編碼結(jié)構(gòu)光所存在的階次誤差問題,并同時適用于靜態(tài)與動態(tài)測試的階次噪聲校正環(huán)節(jié)。
聲明:
“編碼結(jié)構(gòu)光的階次無損校正方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)