本發(fā)明提供一種植物衰退等級的檢測方法,包括:獲取植物的高光譜數(shù)據(jù)信息;對獲取的高光譜數(shù)據(jù)信息進行處理,得到一階微分光譜參數(shù)、連續(xù)統(tǒng)去除光譜參數(shù)、植被指數(shù)以及光譜特征波段;利用所述一階微分光譜參數(shù)、連續(xù)統(tǒng)去除光譜參數(shù)、植被指數(shù)以及光譜特征波段建立基于偏最小二乘回歸法的植物衰退等級的預(yù)測模型、以及基于Fisher線性鑒別分析的植物衰退等級的判別模型;利用所述預(yù)測模型和判別模型進行對比驗證分析,得出植物衰退等級。本發(fā)明提供的一種植物衰退等級的檢測方法能快速、準(zhǔn)確、無損的檢測植物的衰退等級。
聲明:
“植物衰退等級的檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)