本發(fā)明提供一種非絕熱材料內(nèi)部缺陷埋深的探測方法及系統(tǒng),該方法包括:采集和保存非絕熱材料表面的紅外熱圖像;分析非絕熱材料表面溫度場,識別內(nèi)部缺陷在材料表面所對應(yīng)的位置;提取缺陷區(qū)域表面溫度值T1和無缺陷區(qū)域表面溫度值T2,獲取不同時刻t下的溫差ΔT=T1?T2;求解各時刻不同溫差所對應(yīng)的缺陷埋深的計算值;分析最佳時間,獲取最終確定的缺陷埋深。本申請?zhí)峁┑姆墙^熱材料內(nèi)部缺陷埋深的探測方法,實現(xiàn)對非絕熱材料內(nèi)部缺陷的無損、快速、非接觸、無磁、便捷的探測,一方面其探測深度更深,另一方面其受被測材料屬性的影響較小,可以適用于各類巖體、金屬或混凝土內(nèi)部的分層、孔洞或裂隙等缺陷的埋深探測。
聲明:
“非絕熱材料內(nèi)部缺陷埋深的探測方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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