本發(fā)明涉及AD檢測領(lǐng)域,特別涉及一種防止失效誤檢的方法、AD檢測電路及電子設(shè)備。AD檢測電路包括處理單元,其包括第一端口和內(nèi)部上拉電阻,第一端口包括I/O狀態(tài)和AD檢測狀態(tài),內(nèi)部上拉電阻的一端用于與電源連接,內(nèi)部上拉電阻的另一端與所述第一端口連接?;诖?,防止失效誤檢的方法包括:上電后,將第一端口的狀態(tài)置于I/O狀態(tài),電源通過內(nèi)部上拉電阻為充電電容充電;當充電電容的兩端電壓等于電源電壓,將第一端口的狀態(tài)置于AD檢測狀態(tài),采集AD電壓值;獲取至少一個周期的AD電壓值;判斷AD電壓值是否均等于電源電壓;若是,檢測出AD檢測電路工作在異常狀態(tài);若否,檢測出AD檢測電路工作在正常狀態(tài)。本發(fā)明可防止AD檢測電路失效誤檢,提升安全性。
聲明:
“防止失效誤檢的方法、AD檢測電路及電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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