本發(fā)明公開了一種IGBT器件測試裝置及測試方法,裝置包括:可變溫度濕度試驗箱,用于控制測試環(huán)境溫度及濕度;每個測試工位均置于所述可變溫度濕度試驗箱內(nèi)部,每個測試工位用于固定一個IGBT,并對IGBT進行散熱;測試與控制模塊,用于對IGBT進行周期測試,在每次周期測試中依次對IGBT進行高壓測試及靜態(tài)參數(shù)測試;測試電源,與IGBT的柵極連接,用于輸出測試脈沖信號,所述脈沖信號用于控制IGBT的通斷狀態(tài);多條電源引線,用于將外接電源與IGBT連接,并采集IGBT的漏電流。本發(fā)明利用可變溫度濕度試驗箱將測試溫度保持高溫度高濕度環(huán)境狀態(tài)下,對IGBT進行高壓測試之后,利用測量電源對IGBT進行靜態(tài)參數(shù)測試,從而解決了無法了解失效器件的退化過程和其他參數(shù)變化規(guī)律。
聲明:
“IGBT器件測試裝置及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)