本發(fā)明提供了一種復(fù)雜電子系統(tǒng)剩余壽命預(yù)測(cè)方法，采用節(jié)點(diǎn)的關(guān)聯(lián)重要度描述與該節(jié)點(diǎn)直接相連的節(jié)點(diǎn)個(gè)數(shù)，采用位置重要度描述網(wǎng)絡(luò)中節(jié)點(diǎn)在網(wǎng)絡(luò)拓?fù)渲械奈恢?，采用失效率重要度描述網(wǎng)絡(luò)中節(jié)點(diǎn)自身發(fā)生失效的可能性大小，累加得到節(jié)點(diǎn)的綜合重要度，選取重要度排序中的前n個(gè)元器件作為剩余壽命關(guān)鍵元器件，建立n個(gè)關(guān)鍵元器件的失效物理模型，計(jì)算被選擇的各個(gè)關(guān)鍵器件的剩余壽命，以最少剩余壽命作為復(fù)雜電子系統(tǒng)的剩余壽命。本發(fā)明以若干關(guān)鍵元器件的剩余壽命來表征系統(tǒng)的使用狀態(tài)，達(dá)到對(duì)整個(gè)電子系統(tǒng)進(jìn)行剩余壽命預(yù)測(cè)的目的，有效地實(shí)現(xiàn)了板級(jí)電子系統(tǒng)和整個(gè)系統(tǒng)的剩余壽命預(yù)測(cè)。