本實用新型公開了一種用于選礦生產(chǎn)的礦漿品位測量與分析裝置,包括主控單元、測量單元、標定單元、準直單元和溫控單元,礦漿取樣設(shè)備就近安裝在攪拌桶內(nèi),數(shù)據(jù)分析處理上位軟件安裝在PC端工控機中;主控單元采用STM32F407ZET6系列作為微處理器;測量單元由X光管、高壓電源以及探測器構(gòu)成;標定單元由檢測執(zhí)行機構(gòu)及步進電機控制模塊構(gòu)成;準直單元包括準直器和濾光片構(gòu)成;溫控單元由半導體制冷片和微電腦溫控器構(gòu)成;本實用新型能夠?qū)崟r測量選礦各工藝流程中的礦漿品位,并且無放射性元素的危害,具有測量精準、分析方法先進、安全性高的優(yōu)點。
聲明:
“用于選礦生產(chǎn)的礦漿品位測量與分析裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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