本申請(qǐng)公開(kāi)了一種基于FPGA的集成電路原型驗(yàn)證系統(tǒng)及方法,包括:數(shù)據(jù)獲取模塊、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化模塊、數(shù)據(jù)功能性能檢測(cè)模塊、數(shù)據(jù)功能修正模塊和數(shù)據(jù)綜合結(jié)果模塊;通過(guò)獲取待測(cè)試文件或待測(cè)試程序,轉(zhuǎn)化成指定形式的測(cè)試文件或待測(cè)試程序;對(duì)指定形式的測(cè)試文件或待測(cè)試程序進(jìn)行功能和性能的驗(yàn)證,并修正,再次驗(yàn)證,進(jìn)行數(shù)據(jù)查詢并將結(jié)果按照設(shè)定形式進(jìn)行展示;有效的解決了于FPGA的集成電路原型驗(yàn)證中某個(gè)模塊存在問(wèn)題,需要修改重新驗(yàn)證,那么需要將整個(gè)系統(tǒng)重新綜合,重新綜合的時(shí)間長(zhǎng),效率低以及在某個(gè)缺陷修復(fù)或者添加了某項(xiàng)新功能以后,可能會(huì)引入新的缺陷的問(wèn)題,本申請(qǐng)具有廣闊的推廣空間和使用價(jià)值。
聲明:
“一種基于FPGA的集成電路原型驗(yàn)證系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)