本發(fā)明提供了一種
納米材料的高分辨成像裝置,其包括納米
電化學(xué)控制模塊、高分辨電化學(xué)成像模塊和控制模塊;其中所述納米電化學(xué)控制模塊包括電化學(xué)工作站和電化學(xué)池,所述電化學(xué)池包括工作電極和三電極裝置;本申請(qǐng)還提供了利用上述高分辨成像裝置分析單顆粒水平納米材料的方法。本發(fā)明中利用高分辨表面等離子體相干散射成像裝置對(duì)納米材料在單粒子水平反應(yīng)過程中不同位點(diǎn)進(jìn)行成像和分析;該裝置具有靈敏度高、非侵入性等優(yōu)點(diǎn),能夠?qū)Σ煌N類納米材料的化學(xué)活性及電化學(xué)活性進(jìn)行原位成像分析,為高通量篩選提供了重要的保證。
聲明:
“納米材料的高分辨成像裝置及其成像分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)